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電鍍產(chǎn)品質(zhì)量檢驗儀
產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:鍍層厚度分析儀
型號:iEDX-150T
原產(chǎn)商:韓國ISP公司
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
1.鍍層檢測,,檢測層數(shù)范圍1-5層,;鍍層測量精度可達(dá)0.001μm。
2.全自動操作平臺,,平臺尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z),;
3.激光定位和自動多點測量功能;
4.檢測的樣品可以為固體,、液體或粉末,;
5.運行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,,對使用環(huán)境相對要求低;
6.可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描,、無標(biāo)樣定性,、半定量分析;
7.操作簡單,、精準(zhǔn)無損,、高品質(zhì)、高性能,、高穩(wěn)定性,,快速檢測(5-40秒依配置而定);
8.頂級配置:SDD探測器,、超長壽命X射線管,、SPELLMAN高壓電源,儀器使用壽命長,。
9.超高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,,檢測越精準(zhǔn),,這是能譜儀一個非常關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo));
10.可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件,;
11.軟件升級,;
12.無損檢測,一次性購買標(biāo)樣可使用,;
13.使用安心無憂,,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),提供保姆式服務(wù),;
14.具有遠(yuǎn)程服務(wù)功能,,在客戶請求的情況下,可遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器維護(hù),;
(二)產(chǎn)品特征
1.高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2.計算機/MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)
3.MultiRay.運用基本參數(shù)法(FP)軟件,,對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析,可對鍍液進(jìn)行定量分析,。
MTFFP(多層薄膜基本參數(shù)法)模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式50987.1DIN/ISO3497-A1
吸收模式50987.1DIN/ISO3497-A2
線性模式進(jìn)行薄膜鍍層厚度測量
相對(比)模式無焦點測量DIN50987.3.3/ISO3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應(yīng)用[如:Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用[如:Ag/Pd/Zn,Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用[如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用[如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng)[如:Ni-Zn/FeSn-Ni/ABSPd-Ni/Cu/ABS等]
4.Multi-Ray.快速,、簡單的定性分析的軟件模塊??赏瑫r分析20種元素,。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給,。
Multi-Ray金屬行業(yè)精確定量分析軟件,。可同時分析8種元素,。最小二乘法計算峰值反卷積,。采用盧卡斯-圖思計算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)±0.02%,,貴金屬(8-24Karat)分析精度可達(dá)±0.05kt
Multi-Ray.對鍍液進(jìn)行分析,。采用不同的數(shù)學(xué)計算方法對鍍液中的金屬離子進(jìn)行測定。含全元素,、內(nèi)部元素,、矩陣校正模塊。
5.Multi-RayWINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
6.完整的統(tǒng)計函數(shù)均值,、標(biāo)準(zhǔn)差,、低/高讀數(shù),趨勢線,,Cp和Cpk因素等
8.自動移動平臺,,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有最多25個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵",。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包,。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù),、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝,、激光定位和自動多點測量功能。
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析,,1~5層,;
測試精度:0.001μm;
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U),;
測量時間:10~30秒,;
SDD探測器,能量分辨率為125±5eV,;
探測器Be窗0.5mil(12.7μm),;
微焦X射線管50kV/1mA,鉬,,銠靶(高配微焦鉬靶),;
6個準(zhǔn)直器及多個濾光片自動切換;
XYZ三維移動平臺,,MAX荷載為5公斤,;
高清CCD攝像頭(200萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置,;
多變量非線性去卷積曲線擬合,;
高性能FP/MLSQ分析;
儀器尺寸:618×525×490mm,;
樣品臺尺寸:250×220mm,;
樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm,。
1),、硬件參數(shù):
1.X射線管:高穩(wěn)定性X射線管,使用壽命(工作時間>8,000小時)
微焦點x射線管
鈹窗口,,光斑尺寸75um,油絕緣,,氣冷式,,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,,1mA,。高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供最佳性能。
2.探測器:Si-Pin探測器
能量分辨率:149±5eV
3.濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
多準(zhǔn)直器:0.2,0.3,0.5mm可選
測試點大?。簻?zhǔn)直器面積的1.5倍
4.平臺:軟件程序控制步進(jìn)式電機驅(qū)動X-Y-Z軸移動大樣品平臺,。
激光定位、簡易荷載最大負(fù)載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量
5.樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定,、簡易荷載,、激光定位及拍照功能
6.分析譜線:
-2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
-基點改正(基線本底校正)
-密度校正
-Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
-觀察范圍:3mmx3mm
-放大倍數(shù):40X
-射線方向:上照式
-軟件控制取得高真圖像
8.檢測厚度(正常指標(biāo)):
-原子序數(shù)22-24:6~1000微英寸
-原子序數(shù)25-40:4~1200微英寸
-原子序數(shù)41-51:6~3000微英寸
-原子序數(shù)52-82:2~500微英寸
9.計算機,、打印機(贈送)
1)含計算機,、顯示器、打印機,、鍵盤,、鼠標(biāo)
2)含Windows7操作系統(tǒng)
3)Multi-Ray軟件
注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓電源,需另計,。
2),、光譜儀軟件功能
1)軟件應(yīng)用
單鍍層測量
線性層測量,如:薄膜測量
雙鍍層測量
針對合金可同時進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
三鍍層測量,。
無電鍍鎳測量
電鍍?nèi)芤簻y量
吸收模式的應(yīng)用DIN50987.1/ISO3497-A2
-勵磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ISO3497-A1
基本參數(shù)法目前是鍍層領(lǐng)域最佳解決方案,。
2)軟件標(biāo)定方法
自動標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析
-使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計算方法
-使用標(biāo)樣進(jìn)行多點重復(fù)標(biāo)定
-標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能
3)軟件校正功能:
-基點校正(基線本底校正)
-多材料基點校正,如:不銹鋼,,黃銅,,青銅等
-密度校正
4)軟件測量功能:
-快速開始測量
-快速測量過程
-自動測量條件設(shè)定(光管電流,濾光片,,ROI)
5)自動測量功能(軟件平臺)
-同模式重復(fù)功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)
-確認(rèn)測量位置(具有圖形顯示功能)
-測量開始點設(shè)定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))
-測量開始點存儲功能,、打印數(shù)據(jù)
-旋轉(zhuǎn)校正功能
-TSP應(yīng)用
-行掃描及格柵功能
6)光譜測量功能
-定性分析功能(KLM標(biāo)記方法)
-每個能量/通道元素ROI光標(biāo)
-光譜文件下載、刪除,、保存,、比較功能
-光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法
-標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能(強度,、能量)
7)數(shù)據(jù)處理功能
-監(jiān)測統(tǒng)計值:平均值,、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值,。
-最小值,、測量范圍,N編號,、Cp,、Cpk,
-獨立曲線顯示測量結(jié)果,。
-自動優(yōu)化曲線數(shù)值,、數(shù)據(jù)控件
8)其他功能
-系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
-獨立操作控制平臺
-視頻參數(shù)調(diào)整
-儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接
-Multi-Ray自動輸出檢測報告(HTML、Excel、PDF)
-屏幕捕獲顯示監(jiān)視器,、樣本圖片,、曲線等.......
-數(shù)據(jù)庫檢查程序
-鍍層厚度測量程序保護(hù)。
電鍍產(chǎn)品質(zhì)量檢驗儀
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