葉面積指數(shù)是果樹冠層生物學(xué)特征的一個(gè)重要參數(shù),，它可以影響果園的產(chǎn)量、品質(zhì)以及光能的截獲,，在一定程度上決定了果園的生產(chǎn)效率,。測量葉面積指數(shù)的方法有直接測量法和間接測量法，直接測量法具有破壞性,，且費(fèi)時(shí)費(fèi)力,、不能重復(fù)，操作困難難以測量葉面積的動態(tài)變化等,。間接測量法分為相對生長法和光學(xué)法,，應(yīng)用比較廣泛。
 

　　植物冠層分析儀就是屬于光學(xué)法的,，特點(diǎn)是攜帶方便,，不需要進(jìn)行額外的資料處理，可以直接給出葉面積指數(shù)值,，原理是在假定植物冠層內(nèi)的各元素隨機(jī)分布,，依據(jù)冠層間隙度或光學(xué)特性反演葉面積指數(shù)。缺點(diǎn)是測量所得葉面積指數(shù)有著較大的偏差,。葉片的聚集效應(yīng)越強(qiáng),，偏差越大。因此在測量時(shí),，一般需要用直接法校正,。
 

　　測量時(shí)根據(jù)果園的大小。分別設(shè)置3-5個(gè)測量點(diǎn),，在每個(gè)測量點(diǎn)再分別用方框取樣法和冠層分析法測量葉面積指數(shù),。方框取樣法是將方框隨機(jī)放在樹冠上，將方框內(nèi)的的葉片全部摘下,，用葉面積儀測量框內(nèi)的葉面積,，然后根據(jù)樹冠體積和栽植密度計(jì)算葉面積指數(shù)。測點(diǎn)的選擇與冠層分析儀方法相同,。冠層分析儀是分別對應(yīng)測量天空5個(gè)范圍的散射輻射,，這5個(gè)范圍的中心視天頂角分別為7°、23°,、38°,、53°和68°，分別與冠層上部和下部測量輻射通透密度，并根據(jù)轉(zhuǎn)換模型估算葉面積指數(shù),。在每一個(gè)測點(diǎn)的冠層頂部測一次,，下部重復(fù)測量6-10次，冠層下方的測量在同一水平面上,，且在無直接輻射的條件下進(jìn)行,。為了避免光環(huán)境迅速的變化對測量結(jié)果的影響，較好選擇無直接輻射的條件下進(jìn)行,，然后用冠層分析儀附帶的軟件對測量的資料進(jìn)一步加工以校正估值葉面積指數(shù),。