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目錄:安東帕(上海)商貿(mào)有限公司>>激光粒度儀>>納米粒度zeta電位儀>> Litesizer DLS 系列動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀
  • 動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 Anton Paar/安東帕
  • 型號(hào) Litesizer DLS 系列
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海
屬性

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更新時(shí)間:2025-02-13 10:08:22瀏覽次數(shù):10182評(píng)價(jià)

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同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品

更多產(chǎn)品
測(cè)量范圍 0.3nm-12μm微米 測(cè)量時(shí)間 1min秒
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 分散方式 干濕法分散
價(jià)格區(qū)間 60萬(wàn)-80萬(wàn) 儀器種類 動(dòng)態(tài)光散射
應(yīng)用領(lǐng)域 食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,石油,能源,制藥/生物制藥 重現(xiàn)性 +/- 2%
全新安東帕動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀 Litesizer DLS系列提供的粒度和 Zeta 電位測(cè)量功能。具有業(yè)界優(yōu)良的多角度測(cè)量和自動(dòng)角度選擇功能,,更為優(yōu)良的 MAPS(多角度協(xié)同粒度測(cè)量)技術(shù),,可實(shí)現(xiàn)最高的峰值分辨率,。

安東帕動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀 Litesizer DLS系列 能提供的粒度測(cè)量,,并具有自動(dòng)角度選擇功能以減小誤差,,而 MAPS 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)的峰值分辨率,。連續(xù)的透射率檢測(cè)可以監(jiān)控測(cè)量過(guò)程中樣品的沉淀和結(jié)塊,,提高測(cè)量的可靠性,。

作為我們系統(tǒng)的特別之處,cmPALS 和 Omega Cuvette 通過(guò)解決老化效應(yīng)并降低電勢(shì)梯度來(lái)提高 zeta 電位的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,。

Litesizer DLS 還提供了熒光和偏振濾光片,,不僅適用于粒度測(cè)量,還適用于 MAPS 三角和單角度模式下的顆粒濃度測(cè)量,。

關(guān)鍵功能

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀

三個(gè)角度,,實(shí)時(shí)監(jiān)控,,確保粒徑更準(zhǔn)確

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀Litesizer DLS 提供了三種不同的檢測(cè)角度選擇,來(lái)測(cè)量各種各樣的樣品,,同時(shí)通過(guò)自動(dòng)角度選擇消除誤差,。 
多角度粒度測(cè)量 (MAPS) 測(cè)量模式提供了出色的分辨率,支持優(yōu)良的分析精度,。 
我們的連續(xù)透光率監(jiān)控技術(shù),,可在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中提供樣品行為的實(shí)時(shí)反饋,為用戶提供有關(guān)沉降或結(jié)塊的實(shí)時(shí)信息,。這種實(shí)時(shí)洞察提高了測(cè)量質(zhì)量和可靠性,,使我們的系統(tǒng)成為準(zhǔn)確、可靠的顆粒分析選擇,。

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀

 Zeta 電位分析

我們的動(dòng)態(tài)光散射儀器的cmPALS 技術(shù)采用設(shè)計(jì),,可消除由老化效應(yīng)所引起的可重復(fù)不確定性。 
此外,,Omega 樣品池的創(chuàng)新設(shè)計(jì)最大限度地減少了電場(chǎng)的梯度,進(jìn)一步提高了可重復(fù)性 (±3%),。

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀

Kalliope:測(cè)量粒度的基準(zhǔn)軟件

Kalliope 軟件幾乎不需要用戶培訓(xùn),。 
只需三次點(diǎn)擊即可進(jìn)行測(cè)量,。單頁(yè)布局提供了輸入?yún)?shù)、測(cè)量信號(hào)和結(jié)果的實(shí)時(shí)概覽,,讓您對(duì)所需了解的一切都一目了然,。通過(guò)預(yù)先設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告和條理清晰的結(jié)果摘要,快速訪問(wèn)測(cè)量結(jié)果,。 
如需更詳細(xì)的分析,,請(qǐng)使用可自定義的報(bào)告模板、Excel 導(dǎo)出選項(xiàng)和高級(jí)分析功能,。此外,,Kalliope 符合 21 CFR Part 11,確保了數(shù)據(jù)的完整性和合規(guī)性,。

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀

滿足您所需的所有測(cè)量模式

利用 Litesizer DLS 701 的顆粒濃度測(cè)量模式,,增強(qiáng)您的多功能性能,可對(duì)單個(gè)樣本中最多三個(gè)不同粒徑群體進(jìn)行免校準(zhǔn)濃度分析,。無(wú)論您使用單角度 DLS 還是 MAPS,,此模式均支持更大濃度范圍內(nèi)的單分散和多分散樣品。
此外,,在精確的波長(zhǎng)和測(cè)量溫度下測(cè)量溶劑的折射率,,確保粒度和 zeta 電位結(jié)果的最高精度。Litesizer DLS 701 和 DLS 501 能提供高達(dá) ±0.5% 的精確折射率測(cè)量,。
最重要的是,,Litesizer DLS 系列還能提供分子量測(cè)量。
 

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀

功能強(qiáng)大的過(guò)濾器選項(xiàng)

Litesizer DLS 701 和 501 是為用戶提供可在三個(gè)角度方向應(yīng)用的熒光和偏振濾光片之間選擇的動(dòng)態(tài)光散射儀器,。這使其能夠進(jìn)行顆粒濃度分析以及應(yīng)用過(guò)濾器的 MAPS 三角分析或特定的單角度分析 - 允許使用同類儀器無(wú)法進(jìn)行的分析類型(例如量子點(diǎn)的濃度測(cè)定),。


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