新品發(fā)布
Litesizer DIF
Litesizer DLS
Litesizer DIF 激光衍射粒度儀
Litesizer DLS 系列
動態(tài)光散射粒度
和 Zeta 電位分析儀
01
Litesizer DIF 激光衍射粒度儀
安東帕的新型激光衍射粒度儀,，它建立在近 60 年的專業(yè)知識和其前身 PSA 的寶貴經(jīng)驗(yàn)之上,。
Litesizer DIF 提供新一代的粒度測量技術(shù)，測量范圍從 10 nm 到 3.5 mm,。這是一個新時代的開始,，擁有出色的光學(xué)系統(tǒng)、強(qiáng)大的 10 mW 和 25 mW 雙波長激光器,，以及精確的 0.01° 到 170° 的寬范圍衍射角檢測器陣列,。
主要特點(diǎn)
尺寸范圍從10nm 到 3.5mm
兩個固態(tài)激光器，10 年保修
市場上更高的激光功率和更寬的角度范圍
16kHz 的精密數(shù)據(jù)采集率
光學(xué)系統(tǒng)具有減震和防塵設(shè)計(jì),，穩(wěn)定耐用
快速連接的分散單元,，可與Litesizer DIA互換
Kalliope軟件-直觀的一頁工作流程設(shè)計(jì)和專用的QC模式
行業(yè)應(yīng)用
水泥和礦物
制藥行業(yè)
食品飲料
化學(xué)工業(yè)
催化劑
金屬粉末
02
Litesizer DLS 系列動態(tài)光散射粒度
和 Zeta 電位分析儀
全新 Litesizer DLS 系列動態(tài)光散射粒度和Zeta電位分析儀提供更好的粒度和 Zeta 電位測量功能。具有出色的多角度測量和自動角度選擇功能,，更為先進(jìn)的 MAPS 多角度協(xié)同粒度測量 技術(shù),，可實(shí)現(xiàn)更高的峰值分辨率。連續(xù)透射率監(jiān)測可在測量過程中檢測沉降和團(tuán)聚,，從而提高測量的可靠性,。
主要特點(diǎn)
全功能模式：智能多角度DLS粒度測量、多角度聯(lián)合MAPS粒度測量,、ELS模式Zeta電位測量,、SLS分子量測量、PCON粒子濃度測量,、透光率測量,、折光率測量
測量溫度： 0 到120℃
最小樣品量：1.5μL
DLS 測量角度：15°、90°,、175°三角度
粒度測量范圍從 0.3 nm 到 12 µm
優(yōu)秀 cmPALS 技術(shù),，更出色的 Zeta 電位分析
Kalliape軟件：更智能的粒度測量軟件，簡潔智能,，簡單易用,，三次點(diǎn)擊即可獲得專家級測量結(jié)果
市場上更強(qiáng)大的偏振和熒光濾光片
可升級：三角度熒光濾光片和偏振片
具備Litesizer DLS101、501,、701不同型號,，滿足不同需求
行業(yè)應(yīng)用
制藥和生命科學(xué)
化學(xué)工業(yè)
食品飲料
重工業(yè)和石油
廢水和造紙
半導(dǎo)體和電池
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
19
立即詢價
您提交后,，專屬客服將第一時間為您服務(wù)