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更新時(shí)間：2025-05-20 21:00:08
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顯微熔點(diǎn)儀INE-X-4是專業(yè)為物質(zhì)熔點(diǎn)測定設(shè)計(jì)的顯微熔點(diǎn)測定儀,用于藥物,化工,紡織,染料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)測定和顯微鏡觀察,既可用毛細(xì)管示測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定,。
顯微熔點(diǎn)儀INE-X-4規(guī)格參數(shù)
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃（在＜200℃時(shí)）,；
±2℃（在200~300℃時(shí)）
溫度顯示小示值：1℃
熔點(diǎn)觀察方式：單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X
顯微熔點(diǎn)儀INE-X-4是專業(yè)為物質(zhì)熔點(diǎn)測定設(shè)計(jì)的顯微熔點(diǎn)測定儀,用于藥物,化工,紡織,染料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)測定和顯微鏡觀察,既可用毛細(xì)管示測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定,。
顯微熔點(diǎn)儀INE-X-4規(guī)格參數(shù)
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃（在＜200℃時(shí)）,；
±2℃（在200~300℃時(shí)）
溫度顯示小示值：1℃
熔點(diǎn)觀察方式：單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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