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貨物所在地：上海上海市
所在地： www.felles.cn/s
更新時間：2024-12-26 11:29:23
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光纖折射率分布測試儀可測量光纖折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波長處切割,適合任意光纖折射率剖面測量。
多波長設(shè)計
不需要切割
亞微米空間分辨率
適合任意光纖類型
快速測量
折射率測量精度：+/-0.0001
空間分辨率：~500nm
測量波長：500nm ~1um
適合光纖直徑：40~400um
光纖材質(zhì)：硅玻璃,，非硅玻璃,，塑料
同心度誤差：+/-200nm
纖芯非同心度誤差：+/-0.4%
適合光纖種類：單模光纖，多模光纖,，微結(jié)構(gòu)化光纖,，PCF光纖，保偏光纖,，多芯光纖,，稀土光纖，包層泵浦光纖,，大模面積光纖,，低彎曲損耗光纖，高Δ光纖等,。
光纖折射率分布測試儀測量結(jié)果展示
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