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更新時(shí)間：2024-12-20 10:54:20
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環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)是為大氣環(huán)境下光電子能譜測(cè)量設(shè)計(jì)的光電子能譜儀器,Photoemission Spectroscopy,，通過空氣中的光電發(fā)射測(cè)量材料的絕對(duì)功函數(shù)，不需要真空,。
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)在3.4eV到7.0 eV的激發(fā)范圍內(nèi)能夠測(cè)量金屬的絕對(duì)功函數(shù)（精度：0.05 eV）和半導(dǎo)體的電離電位,，同時(shí)使用開爾文探針測(cè)量表面費(fèi)米能級(jí)（精度：0.001 eV）。
隨著表面光電壓（SPV）和表面光電壓譜（SPS）的加入,，
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)可以測(cè)量半導(dǎo)體的全波段,。
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)特點(diǎn)
空氣中光電效應(yīng)的功函數(shù)
態(tài)密度測(cè)量
3.4 eV至7.0 eV能量范圍
所有半導(dǎo)體帶的測(cè)量
用開爾文探針測(cè)量接觸電位差
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)應(yīng)用
有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
太陽能電池與有機(jī)光伏
腐蝕與納米技術(shù)
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
| 規(guī)格參數(shù) | APS01 | APS02 | APS03 | APS04 |
| 開爾文探針三軸掃描功能 | ? | ? | ? | |
| 表面光電壓（SPV） | ? | ? | ||
| 表面光電壓譜（SPS） | ? | |||
| 針尖Tip材料 / 直徑 | 2 mm gold tip | |||
| CPD分辨率 | 1 - 3 meV | |||
| 高度控制 (自動(dòng)) | 25 mm 自動(dòng) | |||
| 開爾文探針模式和PE模式 | CPD 和光發(fā)射測(cè)量 | |||
| CPD 測(cè)量時(shí)間 | CPD 測(cè)量時(shí)間<1分鐘 | |||
| PE分辨率 | 全部光電子發(fā)射測(cè)量 | |||
| WF 測(cè)量時(shí)間 | PE測(cè)量<5分鐘 | |||
| DOS 測(cè)量 | Full access to DOS information | |||
| 光學(xué)系統(tǒng) | 彩色相機(jī)帶ZOOM放大,監(jiān)測(cè)定位 | |||
| 示波器 | 數(shù)字TFT示波器用于實(shí)時(shí)信號(hào) | |||
| 測(cè)量樣品 | 金, 鋁 ，銀等 | |||
| 法拉第外殼底座 (mm) | 450 x 450 mm 法拉第外殼 | |||
| 控制系統(tǒng) | 計(jì)算機(jī)控制,，標(biāo)配軟件 | |||
| 已經(jīng)申請(qǐng)的 | US:8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / EU:2783205 / JP:6018645 | |||
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