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更新時間：2024-12-20 10:34:19
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這款KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數(shù)圖,。掃描開爾文探針的功函數(shù)分辨率為1-3meV,，探針直徑的空間分辨率為0.05mm，可對功函數(shù),、接觸電位差和伏特電位進行可靠,、可重復(fù)的測量。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡可以選配高性能的光學/法拉第外殼屏蔽外殼,，使其免受不必要的快速變化的環(huán)境條件,、電磁干擾，并為我們的環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜和表面光電壓附加模塊提供了的平臺,。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡特色
用開爾文探針測量功函數(shù)
1-3mev的功函數(shù)分辨率
掃描范圍從50毫米到300毫米
掃描分辨率等于針尖直徑
自動高度調(diào)節(jié)
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡應(yīng)用
防腐,，碳鋼,，薄膜，太陽能電池,，氧化鉬,，氧化鋅納米線薄膜，量子點,，空穴傳輸,，納米顆粒，石墨烯,，有機發(fā)光二極管,。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡掃描結(jié)果
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