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更新時間：2024-08-15 16:46:54
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大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI是為14''晶圓光學(xué)檢測設(shè)計(jì)的自動光學(xué)檢測機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測,自動光學(xué)檢測晶圓、芯片,、引線鍵合等,。
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI的900系列是一個模塊化AOI檢查平臺,提供一系列先進(jìn)的光學(xué)和操控性
解決方案包括3D、高分辨率成像和quad彩色照明,。攝像頭和光學(xué)系統(tǒng)可擴(kuò)展到分辨率低于1微米,。此外，一系列可定制物料搬運(yùn)配置包括…在內(nèi)刀庫處理,、帶鋼處理,、托盤處理和晶圓處理。
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI非常適合晶片,、芯片和引線,、鍵合檢查等。提供自動檢查和校準(zhǔn)功能,適合半導(dǎo)體和微電子領(lǐng)域的測量解決方案,。
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI平臺提供最高的分辨率,2D和3D功能和光學(xué),微電子,、包裝和三坐標(biāo)測量功能。
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI使用高分辨率3D系統(tǒng),、12MP分辨率攝像頭,、多層照明和多通道技術(shù)。
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI特點(diǎn)
滿足100級超凈間標(biāo)準(zhǔn) （請聯(lián)系我們確認(rèn)）
較高測量能力,，較大吞吐量
高分辨率3D檢測,，微光學(xué)物鏡,
100-300mm晶圓
引線鍵合檢測
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI規(guī)格參數(shù)
| 型號 | MVP900 | +LP7 | +LP15 | +Micro |
| 檢測能力 | 晶圓,切片晶圓,引線鍵合,引線框架,微電子,3D粘貼,焊劑,保形,環(huán)氧樹脂,膠水,RF, BGA, CMM,模具、表面檢查,、陶瓷,、厚膜、汽車等 | |||
| 編程速度 | 增強(qiáng)的工具,，允許您使用或不借助CAD生成程序 | |||
| X和Y運(yùn)動系統(tǒng) | 精密XY位移臺具有0.5微米的定位精度 | |||
| 光學(xué)分辨率 | 0.3~5um可選擇（請您訂購時選擇確定分辨率） | |||
| 光學(xué)相機(jī) | 分辨率2500萬像素或1200萬像素可選 | |||
| 光學(xué)照明 | 白光或Quad彩色照明 | |||
| 3D測量原理 | 3D光源照明 | 激光輪廓儀 | 激光輪廓儀 | 微觀測量 |
| 3D速度 | 0.5cm/s | 2.4cm/s | 由應(yīng)用決定 | |
| 3D傳感器 XY分辨率 | 2.5um | 5um | 250-350nm | |
| 3D傳感器 Z重復(fù)精度 | 0.3um | 0.4um | 0.5um | |
| 最大零件高度 | 35mm | 35mm | 35mm | 35mm |
| 計(jì)算機(jī) | 多線程高級計(jì)算機(jī)，配置不低于1TB SSD硬盤,，32-256G內(nèi)存,，Linux系統(tǒng) | |||
| 檢測的外部尺寸 | 355mm x 355mm (14'') | |||
| 片厚 | 0.01-12.5mm | |||
| 外形尺寸 | W844mm x D1066mm x H1473mm | |||
| 傳送帶長度 | 850mm | |||
| 供電要求 | 208-240VAC,10A, 50/60Hz | |||
| 重量 | 680kg | |||
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | S2/S8, CE | |||
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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