首頁 >> 供求商機(jī)
貨物所在地：上海上海市
所在地： 美國
更新時間：2024-09-04 10:15:23
瀏覽次數(shù)：104
在線詢價收藏產(chǎn)品( 聯(lián)系我們,，請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,，謝謝?。?/p>
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測量薄膜反射光譜進(jìn)測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù),，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
這款光學(xué)薄膜測厚儀具有較長工作距離,，工作距離可調(diào),，超大樣品臺，可選光源等特點(diǎn),。
光學(xué)模板測厚儀特點(diǎn)
易于安裝
軟件基于Windows系統(tǒng),，方便使用
良好光學(xué)設(shè)計(jì)，良好系統(tǒng)表現(xiàn)
陣列光譜探測器保證快速測量
測量薄膜厚度和折射率高達(dá)5層
可測量反射,，透射和吸收光譜
可用于實(shí)時在線的薄膜厚度和折射率測量
具有齊全的材料光譜舍數(shù)據(jù)庫
可升級到顯微分光光度計(jì)
適合不同襯底和不同薄膜厚度測量
光學(xué)薄膜測厚儀參數(shù)
波長范圍：250-1100nm
光點(diǎn)大?。?00um - 5mm
樣品大小：200x200mm 或200mm 直徑
襯底厚度： 高達(dá)50um
測量薄膜厚度范圍： 2nm -50um
測量時間：zui小2ms
精度：0.5%
重復(fù)精度：<1A
光學(xué)薄膜測厚儀應(yīng)用
半導(dǎo)體制造
液晶顯示屏測量
刑偵
生物膜測量
礦石地質(zhì)分析
制藥醫(yī)學(xué)分析
光學(xué)鍍膜測量
功能薄膜MEMS測量
太陽能電池薄膜測量
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
9