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應用領域 | 電子/電池 |
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光纖折射率分布分析儀可測量光纖折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波長處切割,適合任意光纖折射率剖面測量。
多波長設計
不需要切割
亞微米空間分辨率
適合任意光纖類型
快速測量
折射率測量精度:+/-0.0001
空間分辨率:~500nm
測量波長:500nm ~1um
適合光纖直徑:40~400um
光纖材質(zhì):硅玻璃,,非硅玻璃,,塑料
同心度誤差:+/-200nm
纖芯非同心度誤差:+/-0.4%
適合光纖種類:單模光纖,多模光纖,,微結(jié)構(gòu)化光纖,,PCF光纖,保偏光纖,,多芯光纖,,稀土光纖,包層泵浦光纖,,大模面積光纖,,低彎曲損耗光纖,,高Δ光纖等。
光纖折射率分布分析儀測量結(jié)果展示