目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>測(cè)量/計(jì)量?jī)x器>>水下傳感器>> SE200BE-M450大型光譜橢偏儀
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更新時(shí)間：2024-08-07 20:45:49瀏覽次數(shù)：2011評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),道路/軌道/船舶 |
大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺(tái),，提供更為安全的樣品操作和定位,，具有250-850nm的波長(zhǎng)范圍，是美國(guó)Angstrom公司為大尺寸樣品薄膜厚度測(cè)量而設(shè)計(jì)的美國(guó)進(jìn)口光譜橢偏儀,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性價(jià)比橢偏儀價(jià)格和橢偏儀品牌,。
與反射計(jì)或反射光譜技術(shù)不同的是,，光譜橢偏儀參數(shù)Psi 和Del并非在常見(jiàn)入射角下獲得。通過(guò)改變?nèi)肷浣谴笮?，可獲得許多組數(shù)據(jù),，這樣就非常有助于優(yōu)化橢偏儀測(cè)量薄膜或樣本表面的能力，因此變角橢偏儀功能遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于固定角橢偏儀,。
改變橢偏儀入射角的方法有兩種,，一種是手動(dòng)調(diào)節(jié)，一種是自動(dòng)調(diào)節(jié)入射角,，我們可提供兩種模式的橢偏儀,。
大型光譜橢偏儀特色
特別為大尺寸晶圓等樣品薄膜測(cè)量而設(shè)計(jì)
易于安裝，拆卸和維護(hù)
良好的光學(xué)設(shè)計(jì)
自動(dòng)改變?nèi)肷浣?，入射角分辨率高達(dá)0.01度
高功率光源適合多種應(yīng)用
采用陣列探測(cè)器確保高速測(cè)量
測(cè)量薄膜膜堆的薄膜厚度和折射率
可用于實(shí)或在線監(jiān)測(cè)薄膜厚度和折射率
具有齊全的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)
提供工程師模式,，服務(wù)模式和用戶模式三種使用模式
靈活的工程師模式用于各種安裝設(shè)置和光學(xué)模型測(cè)量
一鍵快速測(cè)量
全自動(dòng)標(biāo)定和初始化
精密樣品準(zhǔn)直界面直接樣品準(zhǔn)直，不需要額外光學(xué)
精密高度和傾斜調(diào)整
適合不同材料和不同后的樣品襯底基片
2D和3D數(shù)據(jù)顯示輸出
大型光譜橢偏儀參數(shù)
波長(zhǎng)范圍：250-850nm
波長(zhǎng)分辨率：1nm
測(cè)量點(diǎn)大?。?-5mm可調(diào)
入射角：0-90度可調(diào)
入射角分辨率：5度
可測(cè)樣品大?。焊哌_(dá)450mm 直徑
可測(cè)樣品厚度：高達(dá)2mm
測(cè)量薄膜厚度：0nm ---20um
測(cè)量時(shí)間：~1s/點(diǎn)
精度：~0.25%
重復(fù)精度：<1A
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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