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岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司

  • FPD Photomask缺陷檢查裝置 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:LODAS™ – LI系列
    LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置,。
    型號: LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對比
    FPD Photomask缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:02:361998
  • GlassWafe缺陷檢查裝置 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:LODAS™ – BI12
    LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
    型號: LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對比
    GlassWafe缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:00:061808
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:LODAS™ – BI8
    LODAS™ – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置,。
    型號: LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:56:082155
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:LODAS™ – AI50/100
    LODAS™ – AI50/100是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置,。
    型號: LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:54:302288
  • FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速,、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層,。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:52:432026
  • 自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復合光源(壽命10000小時),、高精度反射探頭,。因此,在準確性,、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能,。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:43:502240
  • 光學粗糙度測試儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:WM 300
    光學粗糙度測試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長時間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進行耗時粗糙度計算。利用角分辨光散射...
    型號: WM 300 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    WM 300光學粗糙度測試儀Optosurf
    2024/11/9 14:35:192616
  • 晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:PLS-F1000
    晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,,結(jié)合高精度運動模組及晶圓機械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,,...
    型號: PLS-F1000 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    PLS-F1000形貌測量參數(shù)自動檢測機
    2024/11/9 14:30:534428
  • 微波等離子清洗機 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:P03Q-6LS Plasma
    微波等離子清洗機專為微電子表面清潔與改性設(shè)計,用于改善引線鍵合和芯片鍵合結(jié)合力,,倒裝芯片填充不足等封裝制程,,可用于處理各種電子材料,包括塑料,、金屬或者玻璃等,。
    型號: P03Q-6LS ... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    微波等離子清洗微波等離子清洗機
    2024/11/26 17:10:303887
  • 微流控缺陷檢測 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Nanotronics nSpec Macro
    微流控缺陷檢測 Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個面,或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量,。 明場,,暗場,,正交和可配置的傾斜照明角度與...
    型號: Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    微流控缺陷檢測
    2024/11/9 14:22:118735
  • 薄膜電阻測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Delcom 20J3 STAGE
    薄膜電阻測試用戶可以直接在材料上繪制網(wǎng)格圖形,,或者將材料放入一個塑料信封并在信封上繪制網(wǎng)格圖形。然后用戶根據(jù)這些網(wǎng)格線遞增材料。
    型號: Delcom 20... 品牌:DELCOM所在地:上海市 對比
    薄膜電阻測試方塊電阻薄膜電阻測量
    2024/11/26 17:30:203244
  • 晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Nanotronics nSpec LS
    Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng),。它按順序運行多個掃描,。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費力。而且,,隨...
    型號: Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)晶圓缺陷檢測
    2024/11/9 14:14:144548
  • 電鏡隔振臺 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Herz
    Herz電鏡隔振臺的性能非??煽浚∵h遠超過了 電鏡安裝所要求的振動值,,使電鏡能夠獲取十分清晰的高質(zhì)量圖片,!
    型號: Herz 品牌:所在地:上海市 對比
    電鏡隔振臺防震臺Herz防震臺防振臺
    2024/12/18 13:22:585207
  • 硅片厚度測量 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Filmetrics F3-sX
    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度,因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) ,。
    型號: Filmetric... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    硅片厚度測量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀膜厚儀
    2025/1/16 10:05:373957
  • StrainScope Flex可調(diào)式實時應(yīng)力儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    StrainScope Flex可調(diào)式實時應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快,、精度高、重復性好等特點,,對大尺寸樣品可拼接測量,。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司,、J...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:59:553261
  • 實時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    實時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快,、精度高、重復性好等特點,,對大尺寸樣品可拼接測量,。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司,、J...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:57:423216
  • 拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快,、精度高、重復性好等特點,,對大尺寸樣品可拼接測量,。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶廣,用戶包括肖特,、卡爾...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:56:052786
  • 高精度型StrainMatic M4薄膜應(yīng)力測試儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    德國ilis公司成立于1998年,,專業(yè)研發(fā)制造高精度應(yīng)力雙折射分析軟件與測量設(shè)備,薄膜應(yīng)力測試儀采用成像式光彈原理,,直接測量光延遲,,可以快速給出高分辨率的高精度...
    型號: 品牌:所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:12:046393
  • Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度,可測大厚度達3毫米,。此類厚膜,,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:22:524635
  • Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息,。
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:50:163708
  • Filmetrics F60高級光譜反射系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點,,并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測量,。 選擇數(shù)十種預定義的極坐標,矩形或線性地圖...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:48:262675
  • Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達45...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:46:333034
  • Filmetrics F54薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:19:074492
  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜,,不到一秒鐘的時間,,陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:43:013158

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