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岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司

  • Thetametrisis膜厚測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-pRo
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備,,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號: FR-pRo 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2025/4/8 17:41:2931629
  • FR-Scanner:自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計,、復(fù)合光源(壽命10000小時),、高精度反射探頭。因此,,在準(zhǔn)確性,、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:24:541990
  • FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備,,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2025/4/8 14:50:262267
  • 自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Scanner
    薄膜厚度測量的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計,、復(fù)合光源(壽命10000小時),、高精度反射探頭,。因此,在準(zhǔn)確性,、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能,。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:09:4812670
  • 全自動帶顯微鏡多點測量 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Mic
    FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,,可以將光斑縮小到幾個微米,,進而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。
    型號: FR-Mic 品牌:ThetaMetrisis所在地:東莞市 對比
    多層膜厚度測試Thetametrisis膜厚儀FR-Mic um級薄膜表征全自動顯微鏡多點測量
    2024/11/9 14:10:076202
  • 全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Mic
    硬化涂層膜厚儀是一款快 速,、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,,粗糙表面及許多其他表面,。
    型號: FR-Mic 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2025/3/7 9:55:5810974
  • 光學(xué)顯微鏡適配器 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-uProbe-LC
    FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用,例如微圖案表面,、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區(qū)域薄膜厚...
    型號: FR-uProbe... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀拓展工具測量
    2024/11/9 16:27:201443
  • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統(tǒng),,用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 ...
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀薄膜厚度測繪微米級
    2024/11/9 16:23:411513
  • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導(dǎo)體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備,。 藉由先進的光學(xué)器件,,F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    晶圓厚度測量FR-Ultra半導(dǎo)體測量半導(dǎo)體材料
    2024/11/9 15:45:581594
  • FR-Mic:全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    硬化涂層膜厚儀是一款快速,、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,,粗糙表面及許多其他表面,。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2024/11/9 15:28:141644
  • FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀),可進行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層,。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀膜厚儀FR-InLine岱美儀器
    2025/4/8 15:19:312075
  • -自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計,、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭,。因此,,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能,。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:21:021001
  • 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Ultra
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,,專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層,。
    型號: FR-Ultra 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:19:311450
  • 精簡薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-ES
    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng),。
    型號: FR-ES 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜測厚儀
    2024/11/9 15:17:031543
  • FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速,、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層,。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:52:432039
  • 自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計,、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭,。因此,,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能,。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:43:502252
  • Thetametrisis自動化光學(xué)膜厚儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Scanner
    Thetametrisis自動化光學(xué)膜厚儀 FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測量儀是一種緊湊的臺式工具,,適用于自動測繪晶圓片上的涂層厚度。FR-Scan...
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀測厚儀薄膜測厚儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:21:363803

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