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白光干涉儀介紹：
NanoX-2000/3000系列、3D光學(xué)白光干涉儀建立在移相干涉測量(PSI),、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光垂直掃描干涉測量(CSI)等技術(shù)的基礎(chǔ)上,，以其納米級測量準(zhǔn)確度和重復(fù)性(穩(wěn)定性)定量地反映出被測件的表面粗糙度、表面輪廓,、臺階高度,、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征等,。廣泛應(yīng)用于集成電路制造、MEMS,、航空航天,、精密加工、表面工程技術(shù),、材料,、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域。
白光干涉儀產(chǎn)品優(yōu)勢：
1,、美國硅谷研發(fā)的核心技術(shù)和系統(tǒng)軟件,。
2、關(guān)鍵硬件采用美國,、德國,、日本等。
3,、PI納米移動平臺及控制系統(tǒng),。
4、Nikon干涉物鏡,。
5,、NI信號控制板和Labview64 控制軟件。
6,、TMC光學(xué)隔振臺,。
7、測量準(zhǔn)確度重復(fù)性達(dá)到不錯的水平(中國計量科學(xué)研究院證書),。
如有需要,，請聯(lián)系我們，了解我們?nèi)绾伍_始與您之間的合作,，幫您實現(xiàn)您的企業(yè)或者組織機(jī)構(gòu)長期發(fā)展的目標(biāo),。
白光干涉儀使用時需要注意以下幾個方面的問題：
1、環(huán)境條件：對環(huán)境光線和振動非常敏感,，因此在使用時需要在低光照和無振動的環(huán)境中操作,，最好在光學(xué)實驗室等特殊環(huán)境中使用。
2,、樣品準(zhǔn)備：在放置樣品之前,，需要確保樣品表面干凈、平整,，避免雜質(zhì)或污垢影響測量結(jié)果,。
3、對準(zhǔn)調(diào)節(jié)：在使用白光干涉儀進(jìn)行測量之前,，需要精確對準(zhǔn)儀器并調(diào)節(jié)焦距,，以確保能夠獲得清晰,、準(zhǔn)確的干涉圖像。
4,、操作注意：操作時要小心移動和調(diào)節(jié)儀器部件,，避免碰撞或損壞儀器；同時注意調(diào)節(jié)干涉儀的參數(shù)和光源強(qiáng)度,，以獲得最佳的測量結(jié)果,。
5、結(jié)果分析：在獲得干涉圖像后,，需要對結(jié)果進(jìn)行分析和解釋,，以確定樣品表面的形狀和質(zhì)量，同時注意誤差的可能來源并進(jìn)行修正,。
