珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司
單顆粒ICP-MS測(cè)定化學(xué)-機(jī)械整平中使用的元素氧化物納米顆粒懸浮物的特性
檢測(cè)樣品:納米元素氧化物納米顆粒
檢測(cè)項(xiàng)目:定量和表征納米元素氧化物納米顆粒
方案概述:本研究概述了定量和表征納米元素氧化物納米顆粒(氧化鋁和氧化鈰),這些常用于納米電子學(xué)和半導(dǎo)體制造行業(yè)中化學(xué)-機(jī)械(CMP)半導(dǎo)體表面的平整,。CMP是一個(gè)結(jié)合了化學(xué)和機(jī)械外力平滑平面的過(guò)程,,此步驟為光刻作準(zhǔn)備,。
本研究概述了定量和表征納米元素氧化物納米顆粒(氧化鋁和氧化鈰),,這些常用于納米電子學(xué)和半導(dǎo)體制造行業(yè)中化學(xué)-機(jī)械 (CMP)半導(dǎo)體表面的平整,。CMP是一個(gè)結(jié)合了化學(xué)和機(jī)械外力平滑平面的過(guò)程,,此步驟為光刻作準(zhǔn)備,。
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