DRE-2C導熱系數測定儀（瞬態(tài)平面熱源法）

DRE-2C導熱系數測試儀采用瞬態(tài)平面熱源法,，主要測量固體、粉末,、涂層,、薄膜、各向異性材料等的導熱系數,。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術,，用Hot Disk作為探頭的導熱系數測定儀.

Hot Disk法的優(yōu)點有：

（1）直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間,；

（2）不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響,；

（3）無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面,。

 主要技術指標：

1,、導熱系數測定范圍：0.01—100W/mk

2、測量時間：1-600秒

3,、準確度：優(yōu)于5％

4,、溫度范圍：標準測量：室溫，（可根據客戶要求選配各種溫度段的測試溫度,，費用另計：如-20℃～120℃）

5,、樣本尺寸：大于15mm高，大于直徑45mm相對平整的樣品表面,粉體材料直接插入檢測,；

6,、儀器參考標準：ISO 22007-2008.

7,、操作方便，測試速快,，僅需將測試探頭夾在兩塊試樣塊中間,，通過簡單的軟件點擊操作即能獲得被測試樣的導熱系數。