超快速原子力顯微鏡 ULTRA Speed 2

儀器種類：原子力顯微鏡

儀器類型：生物型

定位檢測(cè)噪聲：X-Y方向傳感器噪音水平RMS < 0.09 nm,，Z方向傳感器噪音水平RMS < 0.04 nm

樣品尺寸：超大?140 ×18 mm3自由樣品空間，使用Head-Up樣品臺(tái)樣品高度可達(dá)14cm

樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：20×20 mm2

軟件：V7

簡(jiǎn)介

NanoWizard® ULTRA Speed 2超快速原子力顯微鏡集成了10幀/秒的超快掃描速率與原子級(jí)分辨率,，提供越的納米力學(xué)成像和高穩(wěn)定性,。采用Vortis™ 2控制器和NestedScannerTM技術(shù)，支持高速掃描大起伏樣品,，并能與熒光顯微鏡同步,，實(shí)現(xiàn)原位多參數(shù)觀測(cè)，顯著提升實(shí)驗(yàn)效率和樣品動(dòng)態(tài)過(guò)程的觀察,。該設(shè)備具備高用戶友好度的新一代控制軟件,，確保操作簡(jiǎn)便且功能強(qiáng)大。

超快速原子力顯微鏡 NanoWizard® ULTRA Speed 2

630 Hz線速率,、10幀/秒高分辨超快速成像

最高分辨的定量納米力學(xué)成像

與精密*光學(xué)顯微鏡的美結(jié)合

新一代基于工作流程的軟件革新

靈活易用的模塊化設(shè)計(jì)與大量模塊的越拓展性

超快速掃描極性能

NanoWizard® ULTRA Speed 2 擁有最新一代Vortis™ 2控制器,、頂尖的基于工作流程的用戶界面、*的掃描器設(shè)計(jì)以及新的工作模式,，從而提供了越的高性能和與倫比的用戶有好度,。新一代超快速原子力顯微鏡結(jié)合了真正原子級(jí)分辨率與10幀/秒的超快速掃描速率。這些技術(shù)突破是JPK BioAFM技術(shù)團(tuán)隊(duì)的技術(shù)專家們不斷強(qiáng)化與創(chuàng)新的結(jié)晶,。

用戶易用性的新高度

JPK的工程師團(tuán)隊(duì)采用了全新的方法開發(fā)了新一代控制軟件,。新一代V7控制軟件基于工作流程，旨在滿足每個(gè)用戶的多種需求。新一代軟件可以更容易的控制復(fù)雜與長(zhǎng)期的實(shí)驗(yàn)過(guò)程,，結(jié)合一整套新開發(fā)的配件與功能,，幫助和加快科學(xué)產(chǎn)出。

真正原子級(jí)分辨率與超高的穩(wěn)定性

NanoWizard® ULTRA Speed 2為滿足高分辨率應(yīng)用需求而設(shè)計(jì),。該系統(tǒng)提供的市面上低噪音水平和最高穩(wěn)定性是獲得真正原子級(jí)分辨率的關(guān)鍵,。此外，在超低力下的直接力控制可以防止對(duì)樣品和探針的損壞,。該系統(tǒng)采用*的位置傳感器技術(shù),，可以提供最高的精度和最大的準(zhǔn)確度。

搭配倒置光學(xué)顯微鏡10幀/秒超快速掃描定義新標(biāo)準(zhǔn)

全新的NanoWizard® ULTRA Speed 2探針掃描技術(shù)可以達(dá)到傳統(tǒng)原子力顯微鏡難以企及的速度水平,。實(shí)時(shí),、原位的成像實(shí)驗(yàn)現(xiàn)在可以搭配高分辨*光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行。

采用NestedScannerTM技術(shù)對(duì)大起伏褶皺樣品進(jìn)行高速成像

迄今為止,，在活細(xì)胞,、大起伏褶皺樣品以及具有陡峭邊緣的樣品進(jìn)行最高時(shí)間與空間分辨率的動(dòng)態(tài)成像實(shí)驗(yàn)一直是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的工作?；谌碌腘estedScannerTM技術(shù),，在細(xì)胞、細(xì)菌或其他褶皺樣品的表面可以實(shí)現(xiàn)高速的掃描成像,，樣品最大容許起伏可達(dá)8 µm,。

搭配*熒光顯微鏡的AFM同步觸發(fā)與樣品動(dòng)態(tài)過(guò)程實(shí)時(shí)觀察

樣品的動(dòng)力學(xué)變化通常依賴于改變環(huán)境條件來(lái)觸發(fā)反應(yīng)。全面的環(huán)境控制解決方案(溫度控制以及氣體或液體交換),，結(jié)合光學(xué)顯微鏡手段,，使用戶能夠以倫比的速度進(jìn)行高級(jí)AFM實(shí)驗(yàn)。NanoWizard® ULTRA Speed 2刷新了顯微鏡連用方案的標(biāo)準(zhǔn),。

高速掃描的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

■高分辨觀察樣品實(shí)時(shí)的動(dòng)態(tài)過(guò)程

■NestedScannerTM技術(shù)快速掃描褶皺或較高的樣品表面

■AFM與熒光顯微鏡連用實(shí)現(xiàn)原位的多參數(shù)觀察

■極大提高工作效率,，快速觀察樣品多個(gè)位置