布魯克原子力顯微鏡Dimension FastScan

簡(jiǎn)介

Dimension FastScan是全球掃描速度最快的原子力顯微鏡（AFM），在保持高分辨率和性能的同時(shí),，大幅提升成像速度,。Bruker通過多項(xiàng)技術(shù)創(chuàng)新，包括采用低熱漂移針尖掃描技術(shù),、新型NanoScope控制器和優(yōu)化的懸臂設(shè)計(jì),，實(shí)現(xiàn)了1秒內(nèi)獲得高分辨率圖像的能力。該系統(tǒng)還具備高效率,、低噪音和廣泛的適用性,，支持多種AFM模式及附件，適用于材料科學(xué),、納米操縱和電學(xué)表征等領(lǐng)域,。Dimension FastScan不僅提升了科研和工業(yè)應(yīng)用中的數(shù)據(jù)采集速度，還簡(jiǎn)化了操作流程,，降低了對(duì)用戶技能的要求,。

Dimension FastScan

世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡

掃描速度的全新詮釋，擁有最高的掃描分辨率,，優(yōu)異的儀器檢測(cè)性能

    Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope,，AFM），在不損失Dimension  Icon 超高的分辨率和越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度,。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間,。

    為滿足AFM使用者對(duì)提高AFM使用效率的需求,，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力,，不增加設(shè)備復(fù)雜性,，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng),，即時(shí)快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望,。當(dāng)您對(duì)樣品進(jìn)行掃描時(shí)，無論設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度> 125Hz,，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像,，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像?？焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能,。

     高效率   

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié)    和檢測(cè)器調(diào)節(jié),，智能進(jìn)針,，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。

自動(dòng)測(cè)量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合,，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)  的可信度和可重復(fù)性,。

     高分辨率     

Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時(shí)，延長(zhǎng)了探針的使用壽命,。

掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像,，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。

低噪音,，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級(jí)的噪音水平,。

在任何樣品上均有表現(xiàn)

閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm,，具有超低的熱漂移率,，可得到超高分辨的真實(shí)圖像。

Fast Scan可以對(duì)不同樣品進(jìn)行測(cè)量,，保證高度從埃級(jí)到100多納米的樣品高精度無失真掃描,。

Dimension Fastscan是第一臺(tái)將掃描速度、分辨率,、精確度和噪音控制美結(jié)合的AFM,，真正實(shí)現(xiàn)了快速掃描原子力顯微鏡的商業(yè)化應(yīng)用,。為了實(shí)現(xiàn)AFM掃描速度變革性的提升,，Bruker的工程師致力于AFM技術(shù)的改造和完善,。

■采用低熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù)，提高了系統(tǒng)的固有振動(dòng)頻率,。

■應(yīng)用新的NanoScope控制器,，為機(jī)器提供了更高的帶寬。

■開發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝,，在空氣中共振頻率為1.3MHz,，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。

■采用了低噪音的機(jī)械和電子的主要部件,，結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管,，在技術(shù)上獲得了重大突破。

■更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度,，結(jié)合高精度的閉環(huán)控制,，在效率上遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其它任何商業(yè)化的AFM。

■以20Hz掃描速度進(jìn)行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高,，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會(huì)降低,。

■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片,，即使掃描速度達(dá)到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片,。

■Z方向，探針在Contact模式中移動(dòng)速度可達(dá)到12mm/s,，同時(shí)在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動(dòng)速度達(dá)到2.5mm/s,， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了第一臺(tái)快速掃描AFM,。

■ 自動(dòng)的激光和檢測(cè)器的調(diào)節(jié)使得實(shí)驗(yàn)的組建更為快速有效,。

■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級(jí)的樣品特征,。

最新的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針,，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到激光信號(hào)調(diào)節(jié),。

■ 針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與210mm大尺寸樣品臺(tái)結(jié)合,，消除了樣品尺寸的限制，同時(shí)維持了低的噪音和熱漂移水平,。

    AFM性能

    Dimension FastScan AFM 優(yōu)秀的分辨率,，與Bruker的電子掃描計(jì)算方法相結(jié)合，提供給用戶顯著提升的測(cè)量速度與質(zhì)量,。Dimension Icon是我們工業(yè)的針尖掃描技術(shù)的最新革新,，配置了溫度補(bǔ)償位置傳感器,，展現(xiàn)出Z軸亞埃級(jí)范圍和XY軸埃級(jí)范圍的噪音水平，這個(gè)驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺(tái),，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上,，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)也能展現(xiàn)較高掃描速度,，而不損壞圖像質(zhì)量,，實(shí)現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當(dāng)今市場(chǎng)上任何一款大樣品臺(tái)AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度,。這種革新與新的掃描和下針?biāo)惴ㄏ嘟Y(jié)合,，即使是在難測(cè)量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。

杰出的生產(chǎn)力

    使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠(yuǎn)比其他大樣品臺(tái)原子力顯微鏡要多,。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個(gè)標(biāo)志性的符號(hào),。FastScan把此平臺(tái)引入了更的新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測(cè)量結(jié)果,。其軟件的直觀工作流程,，使其操作過程比以往*的AFM技術(shù)更加簡(jiǎn)便?？梢允钩鯇W(xué)者在操作中,，同樣得到專家級(jí)的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果,，而無需像以前一樣通常需要幾小時(shí)的專業(yè)調(diào)整,。Dimension FastScan的每個(gè)方面—從開放式針尖樣品空間，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM操作簡(jiǎn)易性,。每分鐘低于200pm的熱漂移速率,，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺(tái),，三者結(jié)合提供了的AFM儀器性能,，保證您在最短時(shí)間內(nèi)得到測(cè)試結(jié)果并發(fā)表出版。

    靈活的平臺(tái)

    Dimension FastScan 展現(xiàn)出的的性能,，堅(jiān)固性和靈活度,，使得這臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測(cè)量。利用開放式平臺(tái),，大型多元樣品支架和許多簡(jiǎn)單易用的性能,，將AFM強(qiáng)大的功能展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn),。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升,，以迎合您不斷增長(zhǎng)的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué),、電學(xué)和電化學(xué)附件,。

    性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要

    出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求

    Dimension FastScan可同時(shí)高速捕捉多個(gè)通道的數(shù)據(jù),，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM技術(shù),，模式和模式增強(qiáng)功能,，Dimension FastScan以其的性能優(yōu)勢(shì)，幫助您完成更高水平的納米研究,。

    材料成像

     FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式,，在使用快速掃描掃描

管的情況下可進(jìn)行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù),，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時(shí)間。

    納米操縱

    可實(shí)現(xiàn)在納米和分子級(jí)別的納米操縱和刻蝕,。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng),，大大提高了操縱的精確度。同時(shí)超低噪音的精密探針的準(zhǔn)確定位,，適用于任何納米操作系統(tǒng),。

    加熱和冷卻

    在以各種AFM 模式掃描的同時(shí)可實(shí)現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對(duì)低于100nm的局部加熱到500℃,。

    電學(xué)表征

    使用的模式,，可以在更高的靈敏度和更大的動(dòng)態(tài)范圍上實(shí)現(xiàn)電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了的電學(xué)表征方法,，同時(shí)還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系,。

    利用最短時(shí)間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果

    無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測(cè)量和高質(zhì)量AFM圖片,。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運(yùn)用簡(jiǎn)易方法對(duì)大量數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的處理分析,。

    樣品篩選

    利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進(jìn)行樣品常規(guī)篩選,。無論是材料生產(chǎn)中進(jìn)行失效分析或納米級(jí)的質(zhì)量控制,，及時(shí)的產(chǎn)品信息反饋是的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時(shí),，高精準(zhǔn)度成為條件,。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對(duì)其中的非晶藥物成分進(jìn)行篩選，這可能成為FastScan的一個(gè)新用途,。

    動(dòng)態(tài)應(yīng)用范例

    另一種常見的應(yīng)用是觀察一個(gè)納米級(jí)物體在外部條件變化或受刺激的情況下,，隨著時(shí)間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中,，對(duì)納米尺度的動(dòng)態(tài)變化觀察都是研究?jī)r(jià)值的,。Dimesion FastScan為這種實(shí)驗(yàn)提供了極為便利的條件。