Otsuka大塚全長測量(在線式)掃描膜厚儀
- 公司名稱 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/6/7 10:13:02
- 訪問次數(shù) 35
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Otsuka大塚全長測量(在線式)掃描膜厚儀-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特點
● 采用線掃描方式檢測整面薄膜
● 硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計
● 作為專業(yè)膜厚測定廠商,,提供多種支援
● 實現(xiàn)高精度測量(已獲取)
● 實現(xiàn)高速測量
● 不受偏差影響
● 可對應(yīng)寬幅樣品(TD方向大可測量10m)
式樣
在線型 | 離線型 | |
膜厚范圍 | 0.7~300μm*1 | |
測量寬度 | TD:500mm~大10m x MD1mm | TD:250mmxMD1mm |
測量間隔 | 10ms ~ | |
設(shè)備尺寸 | 81(W)x140(D)x343(H)mm | 459(H)x609(D)x927(H)mm |
重量 | 4kg(僅測量頭) | 60kg |
大功耗 | AC100V 10% 125VA |
※膜厚值n=1.5的換算,。由式樣而定
測量案例
500mm寬的包裝薄膜
核心特點:
微區(qū)測量能力:最小光斑直徑3μm,,搭配自動XY平臺(200×200mm),,實現(xiàn)晶圓、FPD(如OLED,、ITO膜)等微小區(qū)域的精準(zhǔn)厚度分布映射,。
跨行業(yè)適用性:專為半導(dǎo)體(SiO?/SiN膜)、顯示面板(彩色光阻),、DLC涂層等行業(yè)設(shè)計,,支持粗糙表面、傾斜結(jié)構(gòu)及復(fù)雜光學(xué)異向性樣品的分析,。
安全與擴展性:區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機制,,獨立測量頭支持定制化嵌入,滿足在線檢測(inline)與實驗室研發(fā)需求,。
Otsuka大塚全長測量(在線式)掃描膜厚儀-成都藤田科技提供