日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)
- 公司名稱 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/2/22 14:32:31
- 訪問次數(shù) 55
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
量子效率(量子產(chǎn)率)可以瞬時測量
可以去除重新激發(fā)的熒光發(fā)射
集成半球單元實現(xiàn)明亮的光學系統(tǒng)
使用低雜散光多通道分光光度探測器大大減少了紫外區(qū)域的雜散光,。
溫度控制功能 (50~300°C) 可實現(xiàn)與溫度相關(guān)的量子效率(量子產(chǎn)率)測量
兼容紫外到近紅外寬帶 (300~1600nm) 規(guī)格
使用專用軟件輕松作
易于安裝和拆卸樣品測量池
節(jié)省空間且設(shè)計緊湊
通過使用光譜儀型激發(fā)光源,可以選擇任意波長,。
可以在軟件中激發(fā)波長和步長值的自動測量
與粉末,、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容
廣泛的分析功能
量子效率(量子產(chǎn)率)測量
激發(fā)波長依賴性測量
發(fā)射光譜測量
PL 激發(fā)光譜測量
EEM(激發(fā)發(fā)射矩陣)測量
測量 LED 和有機 EL 熒光粉的量子效率(量子產(chǎn)率)
測量薄膜狀樣品
的透射熒光和反射熒光的量子效率(量子產(chǎn)率),,例如用于遠程熒光粉的熒光粉樣品量子點,、熒光探針、生物場,、包合物等的熒光測量
染料敏化太陽能電池量子效率(量子產(chǎn)率)的測量
復雜化合物的測定
QE-2100 配備了一個積分半球,。 與積分球(球形)相比,,積分半球具有以下特點
由于非發(fā)光部件(支架等)可以暴露在外部,因此可以保持較小的自吸收,,從而實現(xiàn)理想的光學系統(tǒng)
鏡子在同一點將照度加倍,,從而實現(xiàn)高靈敏度測量。
樣品測量池易于安裝和拆卸,,損壞積分球內(nèi)部的風險很小,。
在包含重激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下,觀察的不是材料本身的物理性質(zhì),,而是器件的特性,,無法確定真正的物理性質(zhì)值。 QE-2100 使用重激發(fā)熒光校正,,利用積分半球的優(yōu)勢進行簡單準確的測量,。
常規(guī)探測器(多色儀)在紫外區(qū)域檢測到高水平雜散光,因此不適合測量量子效率(量子產(chǎn)率),。 大冢電子通過開發(fā)一種去除雜散光的技術(shù)解決了這個問題,。 QE-2100 中安裝的多通道分光光度探測器與我們的傳統(tǒng)產(chǎn)品相比,,雜散光量約為 1/5,即使在紫外線區(qū)域也能實現(xiàn)高精度測量,。
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