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延遲探測器(Delayline Detectors)

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上海昊量光電設備有限公司  
Aunion Tech Co., Ltd
專業(yè)源自專注  專注成就未來

自2008年成立以來,,昊量光電專注于光電領域的技術服務與產品經銷,,致力于引進guo外*先進性與創(chuàng)新性的光電技術與可靠產品,為國內Z前沿的科研與工業(yè)領域提供優(yōu)質的產品與服務,,助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前,,昊量光電已經與來自美國、歐洲,、日本的多家光電產品制造商建立了緊密的合作關系,。其代理品牌均處于相關領域的發(fā)展前沿,產品包括各類激光器,、光電調制器,、光學測量設備、精密光學元件等,,所涉足的領域涵蓋了材料加工,、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究與國防等,。

昊量光電堅持“專業(yè)源自專注,,專注成就未來”的經營理念。近年來,,我們專注于前沿的細分市場,,為量子光學、生物顯微,、物聯(lián)傳感,、精密加工、先進激光制造等領域的客戶提供系統(tǒng)解決方案,。

作為一家以技術溝通與技術服務見長的高科技企業(yè),,我們所有的銷售與技術服務團隊成員都具有理工科方面的專業(yè)背景,并在公司接受相關領域的專業(yè)培訓,,在售前技術溝通,、售后產品安裝培訓、產品問題解決,、軟硬件增值服務等方面為客戶提供更加專業(yè)化的服務,!我們專業(yè)高效的商務與物流部門憑借多年積累的貿易經驗與規(guī)范化的制度流程,保障每一筆訂貨準時安全到達目的地,,免除客戶的后顧之憂,!

秉承誠信、高效,、創(chuàng)新,、共贏的核心價值觀,昊量光電堅持以誠信為基石,,憑借高效的運營機制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值,,實現(xiàn)各方共贏!

立足于光電產業(yè),,昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新,,贏得客戶與合作伙伴的認可,不斷拓展業(yè)務領域的新邊疆,,立志打造的代理服務品牌,!

 

激光器調制器,激光測量加工設備,光學部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測器光子計數(shù)器,專用實驗設備,相機

產地類別 國產 應用領域 化工,綜合

延遲探測器(Delayline Detectors)


延遲探測器(Delayline Detectors)具有出色的時間分辨率、高達幾十MHz采樣和動態(tài)1D/2D /3D直方圖,,將微觀粒子分析提升到高速測量的新水平,。如上圖,微通道板探測器(MCP)提供了高性能電子,、離子及光子成像,。如果應用程序進行單事件分析,則MCP的延遲探測器(Delayline Detectors)讀出是很好的選擇,因為Delayline檢測器(DLD)能夠實現(xiàn)真正的單事件計數(shù),,具有高信噪比和高時間分辨率,。


延遲探測器(Delayline Detectors)讀出在所有時間分辨MCP讀出系統(tǒng)中具有優(yōu)勢,因為它們提供的時間切片圖像具有很高強度線性,,時間窗口低至100ps以下,。





延遲探測器(Delayline Detectors)關鍵參數(shù)


Active Diameters10mm   - 120mm
Lateral   Resolutiondown to   50µm
Imaging Countrate (Permanent Random)> 5   million counts/s
Imaging Countrate (Special Layouts)> 20   million  counts/s
Max.   Burst Rateup to 100   million counts/s equivalent
Multi-Hit   Designs>=  4 hits
High Voltage Floating Capabilityup to 10kV
Time Bin Resolution6.8ps
Typical Time Resolution (Position Integrated)< 200ps
Start Repetition Ratemax. 9MHz
Standard COMSUSB 3.0   & GBit LAN



延遲探測器(Delayline Detectors)配置示意圖


延遲探測器(Delayline Detectors)應用領域:


  1.   電子和離子的飛行時間分析(TOF)

  2.   時間相關或時間符合光子和粒子成像

  3.   用于X射線和電子能譜的門控成像

  4.   檢測尺寸達120mm的大面積計數(shù)成像(XPS, UPS, EELS)

  5.   電子能量和飛行時間分析儀(XPS, UPS, EELS)

  6.   飛行時間光電電子顯微鏡(ToF PEEM)

  7.   中能離子散射與飛行時間分析(MEIS - ToF)

  8.   原子探針斷層掃描/顯微鏡(APT, 3D-AP)

  9.   X射線吸收/發(fā)射光譜(XAS, XES)

  10.  門控對比增強X射線皮秒成像

  11.  熒光壽命成像(FLIM, FLIM- FRET)




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