延遲探測器(Delayline Detectors)
- 公司名稱 上海昊量光電設備有限公司
- 品牌 昊量光電
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/4/12 10:24:13
- 訪問次數(shù) 43
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,綜合 |
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延遲探測器(Delayline Detectors)
延遲探測器(Delayline Detectors)具有出色的時間分辨率、高達幾十MHz采樣和動態(tài)1D/2D /3D直方圖,,將微觀粒子分析提升到高速測量的新水平,。如上圖,微通道板探測器(MCP)提供了高性能電子,、離子及光子成像,。如果應用程序進行單事件分析,則MCP的延遲探測器(Delayline Detectors)讀出是很好的選擇,因為Delayline檢測器(DLD)能夠實現(xiàn)真正的單事件計數(shù),,具有高信噪比和高時間分辨率,。
延遲探測器(Delayline Detectors)讀出在所有時間分辨MCP讀出系統(tǒng)中具有優(yōu)勢,因為它們提供的時間切片圖像具有很高強度線性,,時間窗口低至100ps以下,。
延遲探測器(Delayline Detectors)關鍵參數(shù)
Active Diameters | 10mm - 120mm |
Lateral Resolution | down to 50µm |
Imaging Countrate (Permanent Random) | > 5 million counts/s |
Imaging Countrate (Special Layouts) | > 20 million counts/s |
Max. Burst Rate | up to 100 million counts/s equivalent |
Multi-Hit Designs | >= 4 hits |
High Voltage Floating Capability | up to 10kV |
Time Bin Resolution | 6.8ps |
Typical Time Resolution (Position Integrated) | < 200ps |
Start Repetition Rate | max. 9MHz |
Standard COMS | USB 3.0 & GBit LAN |
延遲探測器(Delayline Detectors)配置示意圖
延遲探測器(Delayline Detectors)應用領域:
電子和離子的飛行時間分析(TOF)
時間相關或時間符合光子和粒子成像
用于X射線和電子能譜的門控成像
檢測尺寸達120mm的大面積計數(shù)成像(XPS, UPS, EELS)
電子能量和飛行時間分析儀(XPS, UPS, EELS)
飛行時間光電電子顯微鏡(ToF PEEM)
中能離子散射與飛行時間分析(MEIS - ToF)
原子探針斷層掃描/顯微鏡(APT, 3D-AP)
X射線吸收/發(fā)射光譜(XAS, XES)
門控對比增強X射線皮秒成像
熒光壽命成像(FLIM, FLIM- FRET)