檢測(cè)類(lèi)JL-GOOD2000 AI顯微鏡

JL-GOOD2000 AI顯微鏡面向工業(yè)視覺(jué)場(chǎng)景打造的平臺(tái)，提供分割,、定位,、推理、檢測(cè),、分類(lèi),、多目標(biāo)識(shí)別、OCR等功能,，用于產(chǎn)品復(fù)雜缺陷的識(shí)別檢測(cè),。采用圖形化界面設(shè)計(jì)，無(wú)需編程,，即可完成集模型訓(xùn)練,、調(diào)優(yōu)、推理檢測(cè)于一體的完整AI模型構(gòu)建,?；谏疃葘W(xué)習(xí)圖像技術(shù)的動(dòng)態(tài)自學(xué)習(xí)、自適應(yīng),、無(wú)監(jiān)督缺陷檢測(cè)算法具有數(shù)據(jù)成本低,、靈活性高等優(yōu)勢(shì)，應(yīng)用前景廣闊,，能夠集成到多行業(yè)不同的產(chǎn)線設(shè)備中,，支持秒級(jí)切換模型適配產(chǎn)線切換，滿(mǎn)足不同應(yīng)用場(chǎng)景的差異化檢測(cè)需求,，助力品質(zhì)管控和良率提升,。

智能自學(xué)習(xí)

正樣本無(wú)監(jiān)督，自主學(xué)習(xí),，支持添加負(fù)樣本模型再訓(xùn)練,，在線優(yōu)化，越用越智能,，檢測(cè)越**

檢測(cè)更**

深度學(xué)習(xí)算法,，針對(duì)行業(yè)場(chǎng)景適配優(yōu)化，可識(shí)別表面細(xì)微瑕疵缺陷,，精度遠(yuǎn)高于目檢

性?xún)r(jià)比更高

員工培訓(xùn)轉(zhuǎn)變?yōu)樗惴Ｐ陀?xùn)練有效避免員工培養(yǎng)的長(zhǎng)周期,、大投入，高流動(dòng)性帶來(lái)的高額成本

數(shù)字化

檢測(cè)過(guò)程,、結(jié)果自動(dòng)實(shí)時(shí)記錄,，可追溯,，不可篡改，支持與管理系統(tǒng)集成,，有力支撐數(shù)字化轉(zhuǎn)型

組織資產(chǎn)化

將員工的經(jīng)驗(yàn),、能力沉淀為組織資產(chǎn);缺陷分類(lèi)統(tǒng)計(jì)分析可支撐質(zhì)量審計(jì)，改善工藝

員工更健康

顯微鏡符合人體工學(xué)設(shè)計(jì),，4K高清輸出,，細(xì)節(jié)**，快速高效,，可很大程度降低勞動(dòng)強(qiáng)度,，緩解視疲勞

自主學(xué)習(xí)

少量正樣本照片初始訓(xùn)練業(yè)務(wù)中同步進(jìn)行模型再訓(xùn)練和缺陷分類(lèi)，自主在線學(xué)習(xí),，越用越智能

**支持

滿(mǎn)足工業(yè)質(zhì)檢多樣需求, 可靈活切換產(chǎn)線,，提供多目標(biāo)識(shí)別,、分割,、分類(lèi)、檢測(cè),、OCR等功能,。

無(wú)需標(biāo)注

客戶(hù)無(wú)需標(biāo)注繁雜的缺陷樣本，不用定義缺陷邊界,。

應(yīng)用靈活

應(yīng)對(duì)各種復(fù)雜場(chǎng)景,，環(huán)境容忍度高，模型無(wú)需持續(xù)調(diào)整;可根據(jù)業(yè)務(wù)需要靈活適配算法,。

便捷操作

無(wú)需編程,，無(wú)代碼點(diǎn)選操作，無(wú)需算法基礎(chǔ),，即開(kāi)即用,，快速上手。

一鍵部署

支持缺陷樣本增加和再訓(xùn)練;算法模型經(jīng)平臺(tái)驗(yàn)證后可一鍵部署到交付現(xiàn)場(chǎng),。

我們的優(yōu)勢(shì)

無(wú)需采集大量缺陷樣本數(shù)據(jù),，不必要定義缺陷樣本類(lèi)型，無(wú)需標(biāo)注大量缺陷樣本數(shù)據(jù),，自動(dòng)迭代優(yōu)化大量缺陷模型,，自適應(yīng)新型缺陷類(lèi)型，自動(dòng)化適配新產(chǎn)品線,，周期短,、風(fēng)險(xiǎn)小、成本低,、易上手,。

本地化部署

JL-GOOD2000 AI質(zhì)檢系統(tǒng),，現(xiàn)只需一套通用電腦即可實(shí)現(xiàn)本地化部署，無(wú)需強(qiáng)大的服務(wù)器就能夠適用于進(jìn)行 AI 訓(xùn)練和深度學(xué)習(xí)任務(wù)

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