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FluxDancer 半導體參數(shù)分析儀-東譜科技

具體成交價以合同協(xié)議為準

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東譜科技 Oriental Spectra

東譜科技(品牌商標:Oriental Spectra)是一家專業(yè)的光電譜學類儀器及技術方案服務商,,由國內外高校專業(yè)研究人員和行業(yè)工程師聯(lián)合發(fā)起,。團隊核心成員均獲得光機電類碩博士學位,具有5-10年國際實驗室及企業(yè)研發(fā)經(jīng)驗,擁有出色的光電子前沿科學研究及光機電產(chǎn)品開發(fā)的實力,。自主研發(fā)的系列譜學檢測產(chǎn)品已廣泛應用于材料科學,、生命科學、食品科學,、環(huán)境科學,、石油化工、地質學等領域,。公司經(jīng)過多年發(fā)展,,目前擁有應用于光電子器件性能表征分析的光電產(chǎn)品線和前沿光譜技術(瞬態(tài)、超快)為核心的光譜產(chǎn)品線,。具備為太陽能電池,、光伏材料與器件、發(fā)光材料與器件,、光催化,、半導體材料等行業(yè)研究需要提供對應表征測試分析儀器及測試方案的能力。

光電產(chǎn)品線

□ 電致/光致發(fā)光量子效率測量儀HiYield

□ 電致發(fā)光測量儀NovaLum

□ 多通道發(fā)光/光伏器件穩(wěn)定性測量儀EL-Lab

□ 太陽能電池光伏特性測量儀Sunshine

□ 瞬態(tài)光電流/光電壓/光電荷測量儀TranPVC

□ 多功能光電器件測量系統(tǒng)UltraTran

□ 飛行時間法遷移率測量儀FlyTOF

□ 多通道光伏器件穩(wěn)定性測量儀PVLab

□ 光探測器綜合測量儀FineDet 990

□ 有機發(fā)光分子取向儀AngleLum

□ 半導體光源Pina/NanoQ/Mic/Tuna

□ 多功能樣品夾具HiSam

□ 氣體變溫快速換樣系統(tǒng)MagicK

光譜產(chǎn)品線

□ 光電一體化時間分辨光譜儀HiLight 990

□ 穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀HiLight HS15

□ 熒光壽命測量儀HiLight T30

□ 瞬態(tài)電致發(fā)光光譜儀HiLight E60

□ 熒光光譜儀HiLight S20

□ 寬時域時間分辨單光子計數(shù)器HiTime

□ 納秒瞬態(tài)吸收(激光閃光光解)光譜儀NanoFly

□ 飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀FemtoFly





光譜儀,、光電檢測儀器,、激光器、技術服務

價格區(qū)間 面議 應用領域 化工,能源,電子,制藥,綜合

產(chǎn)品簡介

FluxDancer半導體參數(shù)分析儀是由Oriental Spectra精心打造的高精度測試設備,,專為測量和分析半導體器件的電學特性而設計,。這款儀器融合了眾多前沿測量技術,包括電源,、電壓表,、電流表、LCR表和開關矩陣等,,使其能夠執(zhí)行電流-電壓(IV)和電容-電壓(CV)測量,,以及快速脈沖IV測量等多種測試。

FluxDancer在于其對測試精度和分辨率的追求,。它不僅能夠提供精確的IV和CV表征,,而且廣泛應用于半導體研發(fā)、工藝制程開發(fā),、器件可靠性測試和光電器件測試等領域,。與傳統(tǒng)的多儀器組合相比,F(xiàn)luxDancer的集成設計確保了更高的測量精度和分辨率,。

在技術規(guī)格上,,F(xiàn)luxDancer展現(xiàn)了其性能。它支持廣泛的電壓和電流測量范圍,,具備高精度和靈敏度,,能夠檢測到低至飛安級別的微小電流,,并能夠進行高達兆赫茲頻率的CV測量。此外,,F(xiàn)luxDancer還具備強大的數(shù)據(jù)處理能力,,可以在測試后立即進行器件特性分析,支持多種數(shù)據(jù)保存方式,,便于用戶進行后續(xù)的分析研究或直接導入建模軟件進行模型提取和特性分析,。

FluxDancer的適用性非常廣泛,能夠適應各種擴展性的測試場景,。例如,,它可以與高低溫恒溫器耦合,,進行變溫器件性能測試,;與顯微測試系統(tǒng)耦合,進行微納器件測試,;與手套箱測試耦合,,實現(xiàn)測試過程的惰性氣體保護;與真空發(fā)生器測試耦合,,實現(xiàn)真空測試,;與磁學部件耦合,檢測磁場影響下的電學性能;與晶圓測試平臺耦合,,實現(xiàn)對晶圓及后續(xù)半導體模組的電學測試等,。

FluxDancer半導體參數(shù)分析儀是半導體行業(yè)中高精度測試工具,它性能和廣泛的應用范圍,,為科研人員和工程師提供了一個可靠的測量平臺,,助力用戶在半導體領域的探索與創(chuàng)新。

產(chǎn)品特點

□ 電流-電壓(IV),、電容-電壓(CV),、脈沖IV測試等全面功能;

□ 高精度和高分辨率的測量能力,;

□ 快速測量和分析,,支持多種測量模式;

□ 模塊化設計,,易于升級和擴展:配置>10個插槽,,支持吸收電流至4A;

□ 適用器件,、材料,,有源/無源元器件等類型的電子器件;

□ 直觀的用戶界面,,簡化操作流程,;

□ 支持自動化測試和數(shù)據(jù)分析。

產(chǎn)品應用

□ 新型半導體

□ 二極管

□ CMOS 晶體管

□ 雙極晶體管(BJT)

□ 分立器件

□ 存儲器

□ 功率器件

□ 光子檢測器件

□ 太陽能電池

□ 發(fā)光二極管器件

□ 薄膜晶體管

□ 二維材料

□ EMS

□ 傳感器

□ 納米器件

功能參數(shù)

規(guī)格配置
主要技術指標
I-V 源測量單元 (SMU)大功率SMU
  • 電壓范圍:± 100 V-±200V

  • 直流電流范圍:± 1A

  • 脈沖電流范圍:± 2A-±3A

  • 最小電流分辨率:0.1 fA

  • 最小電壓分辨率:100nV

  • 電流測量精度分辨率:10fA

  • 電壓測量精度分辨率:0.5uV

  • 直流功率:20W或者40W可選

  • 脈沖功率:480W (電壓160V,電流3A)

  • 脈沖模式最小寬度:50 us,,可輸出50us脈沖測試

  • 支持四象限測試

  • 支持2線或4線測試

  • 支持IV-T測試模式,,采樣率550ns每點,數(shù)據(jù)存儲點可以設置為10K,,1M,,10M或100M

中等功率直流SMU
  • 電壓范圍:±40-±50 V

  • 電流范圍:±1.5A

  • 最小電流分辨率:400 pA

  • 最小電壓分辨率:4 uV

  • 電流測試分辨率:10fA

  • 電壓測量分辨率:0.5uV

  • 支持四象限測試

  • 支持2線或4線測

小功率直流SMU
  • 電壓范圍:±14 V

  • 電流范圍:±40 mA

  • 最小電流分辨率:200 nA

  • 最小電壓分辨率:60 uV

  • 電流測量分辨率:10fA

  • 電壓測量分辨率:0.5uV

  • 支持四象限測試

  • 支持2線或4線測試

支持源表數(shù)量
  • 1-5可選

前置放大
  • 可配置前置放大,SMU電流測量分辨率提高至0.1fA

C-V 多頻率電容單元 (CVU)
  • AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)

  • 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍,,最小頻率分辨率1mHz

  • 電容測試精度1pF@1MHz≤±0.3%,,10pF@1MHz≤±0.15%,10pF@100kHz≤±0.2%

  • ±30 V (60 V差分),,內置 DC 偏置源可以

  • 擴展到 ± 210 V(420 V差分)

  • 具有IV,、CV自動切換測量功能

  • 支持C-V,C-f電容測量掃描方

脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元 (PMU)
  • 兩個獨立的高速脈沖 I-V 源和測量通道

  • 200 MSa/s,,5 ns 樣點間隔

  • ±40 V (80 V p-p ),,±800 mA

  • 瞬態(tài)波形捕獲模式

  • 任意波形發(fā)生器,10 ns 可編程分辨

高壓脈沖發(fā)生器單元 (PGU)
  • 兩個高速脈沖電壓源通道

  • ±40 V (80 V p-p ),,± 800 mA

  • 任意波形發(fā)生器,,10 ns 可編程分辨率

I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
  • 在 I-V 和 C-V 之間切換,無需抬起探針

  • 任意端子C-V測量,,無需抬起探針

  • 支持 ±210 V DC 偏置

1/f噪聲測試模塊(FNU)
  • 速度8~10s/bias

  • 帶寬1Hz~100KHz

  • 噪聲本底:2*1028A2/Hz

  • 全帶寬下的偏壓為±200

電氣輸入
  • 100V~240V,,50/60Hz

  • 可選配UPS不間斷電

軟件系統(tǒng)
軟件
  • Windows操作系統(tǒng)(含嵌入式PC)

  • 圖形化全套測試軟件

  • 樣品放置完畢,僅點擊鼠標即可完成測試,,包括對儀表進行控制和提取測試數(shù)據(jù),,支持曲線追蹤功能,實時觀察器件擊穿和飽和情況

  • 支持太陽能電池,、發(fā)光器件,、MOSFET、BJT雙極器件,、晶體管器件,、晶體管電容器、電阻器,、二極晶管等器件的測試例程





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