日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試
- 公司名稱 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/2/21 10:30:49
- 訪問次數(shù) 50
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供
Smart膜厚儀 vs OPTM顯微分光膜厚儀——革新光學測量的雙引擎
核心對比與OPTM優(yōu)勢:
技術差異化:
OPTM系列:基于分光干涉法,結合顯微光學系統(tǒng),,實現(xiàn)反射率分析,,支持超薄膜(1nm)與復雜多層結構,技術解決透明基板干擾,。
Smart膜厚儀:側重便攜性與快速篩查,,適用于常規(guī)單層膜厚測量,但精度與功能擴展性不及OPTM系列,。
應用場景:
OPTM適用于研發(fā)(R&D)與高精度QC,,如半導體晶圓、光學濾光片,;Smart膜厚儀更適合產(chǎn)線快速抽檢,。
性價比優(yōu)勢:OPTM以中型設備成本提供媲美橢偏儀的精度,且操作門檻更低,,軟件內(nèi)置NIST校準追溯,,確保數(shù)據(jù)可靠性。
特長
● 1臺便可實再5個樣品的連續(xù)測量
實現(xiàn)了在沒有自動取樣器的情況下難以連續(xù)測量的多個樣品
可以改變每個樣品的條件進行測量
● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品
● 標準測量時間1分的高度測量
自動調(diào)整從濃厚系到稀薄系樣品的測量位置,,實現(xiàn)約1分鐘的高速測量
● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)
沒有任何復雜的操作,,簡單易懂的軟件
● 因為每個樣品槽都是獨立的,沒有接觸污染的風險,。
● 搭載溫度梯度功能
測量范圍(理論值)
● 粒徑0.6nm~10μm
● 濃度范圍 0.00001~40%
● 溫度范圍0~90℃*
規(guī)格
型號 | 多檢體納米粒徑測量系統(tǒng) |
測量原理 | 動態(tài)光散射法(光子相關法) |
光源 | 高功率半導體激光(660nm,、70mW) *1 |
檢出器 | 高感度APD |
連續(xù)測量 | 最多5個樣品 |
測量范圍 | 0.6nm ~ 10μm |
濃度范圍 | 0.00001 ~ 40% *2 |
溫度范圍 | 0 ~ 90℃ (具備溫度梯度功能) *3 |
樣品容量 | 四面透光比色皿:1.2mL~、微量比色皿:20μL~ |
尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
電壓 | 220V 50/60Hz,、250VA |
重量 | 約18 kg |
軟件 | 平均粒徑解析(累積法解析) |
粒徑分布解析 | |
(Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法) | |
粒度分布重疊 | |
逆相關數(shù) 殘差Plot | |
粒徑監(jiān)測 | |
粒徑表示范圍 (0.1 ~ 106 nm) | |
分子量計算機能 | |
21 CFR Part11對應*4 | |
選配 | 微量樣品池(20μL開始対應),、熒光濾光片 |
*1 本設備劃分在激光安全基準(JIS C 6802)的等級內(nèi)。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%,、牛黃膽酸:~40%
*3 標準glass cell的批量測量的情況,。
一次性cell或連續(xù)測量時,, 15 ~ 40℃ (不對應溫度梯度)
*4 選配功能
測量示例
不同溶劑的5個樣品連續(xù)測量
溫度梯度機能使用的測定
可對應寬泛粒徑的范圍的測量
日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供