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鼎陽(yáng)SMM3312X精密源表
- 公司名稱(chēng) 深圳市新瑪科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/19 17:27:51
- 訪問(wèn)次數(shù) 44
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示波器,電子負(fù)載,熱像儀,,邏輯分析儀,,頻譜分析儀,數(shù)據(jù)采集器,,安規(guī)綜合測(cè)試儀,,交直流電源,,電磁兼容EMC測(cè)試和EMC整改的解決方案,
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車(chē),電氣 |
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鼎陽(yáng)SMM3312X精密源表
此系列產(chǎn)品具備6?顯示位數(shù),,高達(dá)±210V直流電壓,、±3.03A直流電流、±10.5A脈沖電流輸出,,最小10fA/100nV編程及測(cè)量分辨率,,最大采集速率100,000 points/s。支持四象限操作,,能夠同時(shí)采集和測(cè)量信號(hào),,實(shí)現(xiàn)對(duì)DUT的源-測(cè)量循環(huán)。既可作為恒壓源,、恒流源,、電壓表、電流表和歐姆表,,還可以作為脈沖發(fā)生器,、波形發(fā)生器,是測(cè)試半導(dǎo)體和其他非線性設(shè)備和材料的理想選擇,。
主要特性
6? 顯示位數(shù)(2,100,000 count)
100,000 points/s最大采集速率
10fA / 100nV最小編程及測(cè)量分辨率
±210V / ±3A(DC) /±10.5A(pulsed) 最大輸出
支持直流,、脈沖、掃描及列表輸出,,最小脈寬50μs
5英寸觸摸屏,,支持圖形和數(shù)字視圖
高精度脈沖模擬
脈沖模式下,SMM3000X系列支持±10.5A的脈沖電流輸出,,最小脈寬可達(dá)50μs,,能夠精準(zhǔn)模擬功率器件的瞬態(tài)工況,如GaN(氮化鎵),、SiC(碳化硅)器件的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試等,,為功率半導(dǎo)體器件的研發(fā)和測(cè)試提供了強(qiáng)有力的支持。
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線性/對(duì)數(shù)掃描
SMM3000X系列支持線性/對(duì)數(shù)/脈沖掃描,,可根據(jù)用戶預(yù)設(shè)的起始點(diǎn)至終止點(diǎn),,以固定的步進(jìn)值逐點(diǎn)輸出電壓或電流,,同時(shí)自動(dòng)測(cè)量并記錄每個(gè)點(diǎn)的值。用戶可以快速地驗(yàn)證二極管,、晶體管等半導(dǎo)體器件在不同工作點(diǎn)下的特性,,獲取其導(dǎo)通特性曲線,對(duì)器件進(jìn)行性能分析,。
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靈活自定義序列
列表模式支持用戶自定義輸出序列,,最小間隔可達(dá)10μs,參數(shù)變化可以是線性的,,也可以是非線性的,,甚至是任意值或自定義順序。SMM3000X按照列表中設(shè)定的值依次輸出電壓或電流,,同時(shí)測(cè)量并記錄數(shù)據(jù),,適用于不規(guī)則的電壓/電流變化測(cè)試或多段測(cè)試等。
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數(shù)據(jù)可視化分析
SMM3000X系列提供了Graph,、Roll和Measure結(jié)果視圖等多種視圖模式,。用戶可以通過(guò)Graph視圖對(duì)數(shù)學(xué)運(yùn)算結(jié)果進(jìn)行實(shí)時(shí)曲線繪制,通過(guò)Roll視圖對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的時(shí)域波形進(jìn)行顯示,,通過(guò)Measure視圖獲得跡線統(tǒng)計(jì)結(jié)果,。多種視圖模式提供了多維度的參數(shù)分析,用戶可更直觀地理解和分析測(cè)試數(shù)據(jù),。
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高效程控
SMM3000X系列基于先進(jìn)的SCPI命令集,,支持通過(guò)USB、LAN接口與計(jì)算機(jī)通信,,實(shí)現(xiàn)高效便捷的遠(yuǎn)程控制,。用戶既可通過(guò)網(wǎng)頁(yè)輕松操控,,也可結(jié)合SCPI命令進(jìn)行深度自定義編程,,滿足多樣化測(cè)試需求。此外,,用戶還可利用Socket通信技術(shù),,通過(guò)TCP/IP協(xié)議與SMM3000X進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)交互,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程測(cè)試與控制,。
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鼎陽(yáng)SMM3312X精密源表的推出,,不僅滿足了第三代半導(dǎo)體、先進(jìn)光電器件等前沿領(lǐng)域的精密測(cè)試需求,,還可大幅縮短了新能源電池,、高密度集成電路等產(chǎn)品的研發(fā)周期,提升測(cè)試效率和測(cè)試精度,,為產(chǎn)品的研發(fā)和創(chuàng)新提供強(qiáng)有力的支持,。
相關(guān)分類(lèi)
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