SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

澤攸科技的SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)是一款專為掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計(jì)的先進(jìn)設(shè)備,，它允許在極低溫度下對樣品進(jìn)行觀察和分析,，同時(shí)保持樣品的原始狀態(tài)。該系統(tǒng)能夠在真空環(huán)境中穩(wěn)定傳輸樣品,，確保在分析過程中樣品不受外界環(huán)境的影響,，這對于需要在低溫條件下研究材料表面特性的科研人員來說至關(guān)重要。

參數(shù)介紹

提供定制化樣品梭服務(wù)

獨(dú)立控制系統(tǒng)   獨(dú)立真空系統(tǒng)

高匹配360°（無限）旋轉(zhuǎn)冷臺  冷臺傾轉(zhuǎn)角度≥55°

冷臺溫度≤-170℃  冷臺降低溫時(shí)間：≤35min

冷阱溫度≤-190℃  冷阱降低溫時(shí)間≤20min

冷臺,、冷阱設(shè)計(jì)烘烤功能  烘烤溫度：≥100℃

• 360°旋轉(zhuǎn)冷臺

▲ 功能：用于裝載樣品梭及提供低溫保

▲ 旋轉(zhuǎn)角度：0-360°

▲ 控溫范圍：-170℃~100℃

▲ 控溫精度：≤±0.1℃

▲ 降溫速度：≤35min

• 冷阱

▲ 功能：低溫保護(hù),、吸附污染物

▲ 控溫范圍：≤-190℃

▲ 控溫精度：≤±0.5℃

▲ 降溫速度：≤20min

• 真空轉(zhuǎn)移腔

▲ 功能：用于樣品的真空轉(zhuǎn)移

▲ 可實(shí)現(xiàn)手套箱—FIB真空相互轉(zhuǎn)移

▲ 可實(shí)現(xiàn)液氮內(nèi)樣品—FIB冷凍制樣真空轉(zhuǎn)移

• 真空過度倉

▲ 功能：實(shí)現(xiàn)樣品到電鏡的真空過度轉(zhuǎn)移

▲ 操作快速

▲ 便捷獨(dú)立真空系統(tǒng)

▲ 匹配電鏡真空

• 低溫系統(tǒng)

▲ 功能：用于為冷臺、冷阱提供冷源

▲ 液氮容積35L

▲ 持續(xù)工作時(shí)間＞8h

▲ 設(shè)計(jì)不停機(jī)添加液氮端口

• 控制系統(tǒng)

▲ 功能：用于系統(tǒng)的控制,、集成和交互

▲ 溫度顯示及控制

▲ 真空系統(tǒng)集成與控制

▲ 選配液氮工作站,，可滿足樣品的冷進(jìn)冷出需求

應(yīng)用案例

鋰電池隔膜樣品在不同溫度下的FIB截面制備結(jié)果
顯示：低溫可避免FIB制備過程產(chǎn)生的熱量對樣品結(jié)構(gòu)造成的破壞

某高分子膜截面冷凍加工