儀景通EVIDENT相控陣探傷儀OmniScan X4

OmniScan X4多技術系列儀器是一種功能強大的便攜式解決方案,，其高速度和多功能性可提升您的工作效率,，

同時增強您對評估工作的信心。利用其高級相控陣功能,、高效的全聚焦方式（TFM） 和創(chuàng)新型相位相干成像

（PCI）技術,，可以探測和解讀具有挑戰(zhàn)性的缺陷，并通過更早地識別損傷來確保資產(chǎn)的完整性,。

儀景通EVIDENT相控陣探傷儀OmniScan X4

值得信賴

每臺OmniScan X4儀器堪稱一個無所不包的多技術檢測工具箱,，可使您利用多種超聲檢測技術。利用其檢測和測量功能,，

可在損壞變得嚴重之前準確識別和評估損壞的嚴重程度,，從而保護那些容易出現(xiàn)裂紋或腐蝕的焊縫、部件和資產(chǎn),。

使用PCI進行可靠評估

在探測和突出顯示以往難以檢測的缺陷時,，如鉤狀裂紋和應力腐蝕開裂（SCC），相位相干成像技術有助于消除疑慮,。

使用PCI可以清楚地區(qū)分細小裂紋群中的單個缺陷,，并可靠地進行表征。

TFM采集率提高了3倍

由于OmniScan X4系列儀器處理能力的提升,，獲得清晰TFM圖像的速度比上一代型號（X3 64）快了三倍,。

OmniScan X4 64:128PR儀器擁有128個晶片能力，速度更快，可以利用其擴展的聚焦功能進行TFM檢測,。

達到這一速度取決于配置和稀疏發(fā)射的使用,。

獲得即時洞察力，消除低效率問題

TFM和PCI雙重技術讓您信心倍增

采用具有不同特性的PCI和TFM兩種技術,，同時從焊縫兩側(cè)徹查整個焊縫體積。使用兩個探頭對焊縫進行一次性掃查,，

即可顯示TFM和PCI結(jié)果,，以便高效精確地比較、測量和確認缺陷特征,。

設計宗旨是提高速度和簡化操作

在OmniScan X4系列儀器上可以簡單直觀地進行相控陣,、TOFD、TFM和PCI檢測,。任何經(jīng)驗水平的檢測人員都可以利用

這些技術,，通過簡單的逐步掃查計劃和應用預設，提高效率,，增強信心,。

便捷的應用預設

OmniScan X4的應用預設，可以改善學習曲線,，提高檢測在不同操作員之間的可靠性和一致性,。即使是低級別用戶和

新用戶也可以在幾分鐘內(nèi)完成優(yōu)質(zhì)的PA或PCI配置。

通過腐蝕和復合材料檢測選項,，這些預編程參數(shù)簡化了使用HydroFORM,、FlexoFORM和RollerFORM掃查器的掃查

設置，而且您還可以根據(jù)需要調(diào)整設置,。

簡化了復雜配置

OmniScan X4掃查計劃的直觀分步3D圖形可簡化從基本到復雜的各種檢測設置,。

在設置光柵掃查計劃時，可以自行命名掃查軸,，還可以創(chuàng)建相對于資產(chǎn)的基準參考點,。這些真實世界的參考以及真實

方向的校正，大大地方便了為報告創(chuàng)建直觀的檢測數(shù)據(jù)示意圖的操作,。