EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)（勘探,、開采、品位控制）,，工業(yè)礦物,，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料,，陶瓷和玻璃,，地球化學學術研究，考古等,。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍,，可實現(xiàn)在水泥、礦物,、采礦,、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制,。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器,，對輕、中,、重元素和常見氧化物（Na2O,、MgO、Al2O?,、SiO?,、P2O5,、SO?、K2O,、CaO,、TiO?、Cr2O?,、MnO,、Fe2O?、ZnO和SrO等）都可達到最佳分析效果,。

EDX9000B plus可以輕松完成對以下礦種的測試：

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦,、鈦鐵礦,、菱鐵礦等)銅礦(黃銅礦、赤銅礦,、孔雀石等)鉻礦(鉻鐵尖晶石,、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)鉬礦(輝鉬礦,、銅鉬礦,、鎢鉬礦等)鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦,、錫鎢礦等)鉭礦(鉭鐵礦,、鈮鐵礦、燒綠石等)鉛鋅礦(方鉛礦,、閃鋅礦,、白鉛礦等)鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)鋁土礦其它礦類

產(chǎn)品特點

1.小型化,、高性能,、高速度、易操作,，Na11-U92高靈敏度,、高精度分析2.可同時分析40種元素3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設計，雙真空抽速機構(gòu),，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)6.標配基本參數(shù)法軟件,，多任務，多窗口操作7.薄膜濾光片技術,，有效提高輕元素檢出限礦產(chǎn)元素檢測專家EDX9000B Plus

>儀器參數(shù)

>儀器配置

全新設計的XTEST分析軟件

軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP）,，經(jīng)驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,，堆積峰和峰總和,，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量*對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正,，即所有基質(zhì)效應，增強和吸收,。*譜顯示：峰定性,，KLM標記，譜重疊比較,，可同時顯示多個光譜圖*可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,，將光峰強度建模為高斯函數(shù)。*可以使用純基本參數(shù)方法,，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析,。*基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品,。

鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告