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德國(guó)SENresearch 4.0擁有寬光譜范圍的光譜橢偏儀 產(chǎn)品關(guān)鍵詞:寬光譜橢偏儀;sen光譜;光譜橢偏儀senresearch40
參考價(jià) | ¥ 1500000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/11/4 17:01:32
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德國(guó)SENresearch 4.0:擁有寬光譜范圍的光譜橢偏儀

新的SENresearch 4.0設(shè)計(jì)用于光譜橢偏儀,,在寬的光譜范圍從190nm(深紫外)到3,500 nm(近紅外)。每一臺(tái)SENresearch 4.0都是客戶特定的橢偏光譜解決方案,。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩陣,、各向異性、廣義橢偏,、散射測(cè)量等,。使用步進(jìn)掃描分析器原理實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果。

寬光譜范圍和高光譜精度
SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍,,從190 nm(深紫外)到3500 nm(近紅外),。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達(dá)200μm的厚膜。
雙補(bǔ)償器2C全穆勒矩陣測(cè)量
通過創(chuàng)新的雙補(bǔ)償器2C設(shè)計(jì)擴(kuò)展了步進(jìn)掃描分析器SSA原理,,允許測(cè)量全穆勒矩陣,。該設(shè)計(jì)是可現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)和實(shí)現(xiàn)成本效益的附件。
沒有光學(xué)器件運(yùn)動(dòng)(步進(jìn)掃描分析器原理)
為了獲得測(cè)量結(jié)果,,在數(shù)據(jù)采集過程中沒有光學(xué)器件運(yùn)動(dòng),。步進(jìn)掃描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光譜橢偏儀的一個(gè)特性。
SpectraRay/4綜合橢偏儀軟件
SpectraRay/4 是用于材料分析的全功能軟件包,。SpectraRay/4 包括用于與引導(dǎo)圖形用戶界面進(jìn)行研究的交互模式和用于常規(guī)應(yīng)用的配方模式,。
SENresearch 4.0 是SENTECH新的光譜橢偏儀。每一臺(tái)SENresearch 4.0光譜橢偏儀都是根據(jù)客戶具體配置的光譜范圍,、選項(xiàng)和現(xiàn)場(chǎng)可升級(jí)附件而制造的,。
SENresearch 4.0 使用快速的傅立葉紅外光譜儀FTIR測(cè)量至2500 nm或3500 nm的近紅外光譜。它提供了寬的光譜范圍,,具有的信噪比,,可選擇的光譜分辨率??蓽y(cè)量硅薄膜厚度高達(dá)200μm,。傅立葉紅外光譜儀FTIR的測(cè)量速度與二極管陣列配置相比,,也可選擇高達(dá)1700納米。
新的金字塔形狀的自動(dòng)角度計(jì)具有從20度到100度的角度范圍,。光學(xué)編碼器確保精度和角度設(shè)置的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,。光譜橢偏儀手臂可以獨(dú)立移動(dòng),用于散射測(cè)量和角度分辨透射測(cè)量,。
SENresearch 4.0 根據(jù)步進(jìn)掃描分析器(SSA)原理進(jìn)行操作,。SSA將強(qiáng)度測(cè)量與機(jī)械運(yùn)動(dòng)分離,從而允許分析更加粗糙的樣品,。所有光學(xué)部件在數(shù)據(jù)采集期間都處于靜止?fàn)顟B(tài),。此外,SENresearch 4.0 包括用于自動(dòng)掃描和同步應(yīng)用的快速測(cè)量模式,。
定制的SENresearch 4.0橢偏儀可以配置用于標(biāo)準(zhǔn)和高級(jí)應(yīng)用,。例如介電層堆疊、紋理表面,、光學(xué)和結(jié)構(gòu)(3D)各向異性樣品,。為各種各樣的應(yīng)用提供了預(yù)定義的配方
SpectraRay/4 是SENresearch 4.0光譜橢偏儀的綜合軟件。它包括兩種操作模式:配方模式和交互模式,。配方模式允許輕松執(zhí)行常規(guī)應(yīng)用程序,。交互式模式通過交互式圖形用戶界面引導(dǎo)通過橢偏測(cè)量。
SpectraRay/4 提供了光譜橢偏儀測(cè)量和分析的所有工具,。













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