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德國(guó)Sentech SE 800 PV 激光橢偏儀 多層鈍化膜和防反射涂層 產(chǎn)品關(guān)鍵詞:sentech橢偏儀;德國(guó)sentechse800pv激光橢偏儀
參考價(jià) | ¥ 1300000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/11/4 17:00:51
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德國(guó)Sentech SE 800 PV 激光橢偏儀

疊層防反射涂層:
可以分析SiO2/SiNx、Al2O3/SiNx和SiNx1/SiNx2的涂層,。
紋路晶片:
防反射涂層和鈍化層可以在單晶和多晶硅晶片上測(cè)量,。
操作簡(jiǎn)單:
不管是專家還是初學(xué)者,光譜橢偏儀SE 800 PV都提供了簡(jiǎn)單的操作,。配方模式特別適合質(zhì)量控制所需的常規(guī)應(yīng)用,。
光譜橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽(yáng)能電池防反射膜的理想工具,。可以測(cè)量單層薄膜(SiNx,、SiO2,、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2,、SiNx1/SiNx2,、SiNx/Al2O3)。
SE 800 PV是基于步進(jìn)掃描分析器測(cè)量模式,。步進(jìn)掃描分析器模式允許將測(cè)量參數(shù)匹配到粗糙的樣本表面,,同時(shí)所有光學(xué)部件都處于靜止?fàn)顟B(tài)。SE 800 PV的光源,、光學(xué)部件和檢測(cè)器進(jìn)行了優(yōu)化,,以符合SENTECH的目標(biāo),即快速,、準(zhǔn)確地測(cè)量PV應(yīng)用的折射率指數(shù),、吸收和膜厚,。
高測(cè)量靈敏度,、去偏振校正和特殊的集光光學(xué)使SE 800 PV成為在粗糙樣品表面進(jìn)行光伏應(yīng)用的理想儀器。
光譜橢偏儀SE 800 PV具有操作簡(jiǎn)單的特點(diǎn),、便于研發(fā)應(yīng)用,。SpectraRay/4,SENTECH專有的橢偏儀軟件,,包括兩種操作模式,。配方模式允許在質(zhì)量控制中輕松執(zhí)行常規(guī)應(yīng)用程序。交互模式具有指導(dǎo)性的圖形用戶界面,,適合于研發(fā)應(yīng)用和新配方的開(kāi)發(fā),。
此外,SE 800 PV滿足SENresearch光譜橢偏儀系列的所有要求,。




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