DDCOM X射線單晶定向儀

產品特點

確定單晶的晶格取向，使用Omega掃描方法的超高速晶體定位,，測量立方晶體任意未知取向的測定,，特別設計用于點陣方向的方位設置和標記。氣冷式x射線管,，無需水冷,，
適合于研究和生產質量控制。 X射線單晶定向儀

詳細介紹

產品介紹：

技術特點

確定單晶的晶格取向

使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量

立方晶體任意未知取向的測定

特別設計用于點陣方向的方位設置和標記

氣冷式x射線管,，無需水冷

適合于研究和生產質量控制

X射線單晶定向儀

所有想要的晶體方向參數(shù)在5秒內一次旋轉中被捕獲

可測量材料的例子

? 立方/任意未知方向：Si,， Ge， GaAs,， GaP,， InP

? 立方/特殊取向：Ag， Au,， Ni,， Pt， GaSb,， InAs,， InSb， AlSb,， ZnTe,， CdTe， SiC3C,， PbS,， PbTe， SnTe,， MgO,， LiF， MgAl2O4,， SrTiO3,， LaTiO3

? 正方：MgF2,， TiO2,， SrLaAlO4

? 六方/三角：SiC 2H， 4H,， 6H,， 15R,， GaN， ZnO,， LiNbO3,， SiO2（石英），Al2O3（藍寶石）,，GaPO4,， La3Ga5SiO14

? 斜方晶系：Mg2SiO4 NdGaO3

? 可根據(jù)客戶的要求進一步選料

X射線單晶定向儀

DDCOM的應用

平面方向的標記和測量

在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標記,。切割過程中,，晶片必須正確地對準晶圓片上易于切割的晶格面。因此,，檢查平面或缺口的位置至關重要,。

為了確定平面或缺口的位置，就需要測量平面內的部件,。由于Omega掃描法可以在一次測量中確定完整的晶體方位,，基于此，便可以直接識別在平面方向或檢查方向的單位或缺口,。

DDCOM通過旋轉轉盤,，可以將任何平面方向轉換成用戶的特定位置。在必須定義平面方向的情況下,，這可以極大簡化將標記應用到特定平面方向的過程,。