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澤攸SEM納米探針臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京儀光科技有限公司
  • 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/3/25 7:06:26
  • 訪問次數(shù) 520
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澤攸SEM納米探針臺(tái)

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  北京儀光科技,專注顯微形貌分析,!
  北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀,、臺(tái)式掃描電鏡/臺(tái)階儀/電鏡原位分析、各進(jìn)口及國產(chǎn)品牌的金相顯微鏡,、體式顯微鏡,、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡,、大型掃描電子顯微鏡,、超薄切片機(jī)、清潔度分析儀,、金相及巖相制樣設(shè)備,、顯微相機(jī)、冷熱臺(tái),、陰極發(fā)光臺(tái),、光學(xué)平臺(tái)等各類型科研分析儀器。提供制樣,、顯微觀察,、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測(cè)等全套分析檢測(cè)解決方案。
  我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀,、德國徠卡等進(jìn)口及國產(chǎn)各類型光學(xué)顯微鏡,、安徽澤攸臺(tái)式掃描電鏡&臺(tái)階儀&電鏡原位分析、美國RMC超薄切片機(jī)/半薄切片機(jī),、德國蔡司大型掃描電鏡,、丹麥司特爾金相制樣、英國Linkam冷熱臺(tái),、陰極發(fā)光臺(tái),、防震平臺(tái)等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校,、科研院所,、農(nóng)林、醫(yī)療,、石油石化,、地質(zhì),、文博、船舶,、汽車,、工業(yè)材料、電子半導(dǎo)體,、電力,、能源、檢測(cè)分析等各個(gè)行業(yè),。我們致力于以開放的視野,、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為科研和工業(yè)等用戶提供專業(yè),、全面的顯微形貌分析應(yīng)用解決方案,。
  愿景:讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效,!
  使命:為材料用戶提供準(zhǔn)確,、可靠、全面的毫米級(jí)到納米級(jí)樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

 

西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀,、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析,、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī),、Linkam冷熱臺(tái)

澤攸SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位,, 它具有分辨率高,尺寸緊湊,,行程大,,操作簡單,能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn),,可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)動(dòng)操作,。

澤攸SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品使用壓電陶瓷驅(qū)動(dòng),運(yùn)無需潤滑,,百分真空兼容,,并可在很廣的溫度范圍內(nèi)工作。運(yùn)動(dòng)分辨率達(dá)到納米級(jí),。步進(jìn)和掃描雙模式工作,,在宏觀行程范圍內(nèi)達(dá)到亞納米分辨率的定位。

三軸探針臺(tái)由三個(gè)單軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)組合而成,。一SEM腔體內(nèi)可安裝多個(gè)三軸探針臺(tái),。平上可安裝電學(xué)探針,、光纖探針,、納米鑷子,、金剛石納米力壓頭、顯微注射器等各類操縱和測(cè)量頭,,實(shí)現(xiàn)微納操縱和測(cè)量的目的,。

澤攸SEM納米探針臺(tái)




    • 結(jié)構(gòu)緊湊,高剛性

    • 壓電陶瓷位移平臺(tái)具有超長使用壽命

    • 內(nèi)部根據(jù)需求可增加位置反饋

    • 應(yīng)用:納米材料操縱,、納米器件電學(xué)光電等物性測(cè)量,、生物細(xì)胞DNA操作等

    • 適配SEM:日本電子、 日立,、FEI,、 TESCAN等

    應(yīng)用案例

    澤攸SEM納米探針臺(tái)        澤攸SEM納米探針臺(tái)

    對(duì)二維材料的電學(xué)測(cè)量                                                對(duì)器件的電學(xué)測(cè)量

    澤攸SEM納米探針臺(tái)        澤攸SEM納米探針臺(tái)

    對(duì)芯片的電學(xué)測(cè)量                                                  對(duì)一維材料的電學(xué)測(cè)量





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