賽默飛實驗室設備介紹：

默飛世爾科技的 Talos™   F200X 掃描/透射電子顯微 鏡（S/TEM）提供速，納米材料多維定 量表征,。由于配備了多種創(chuàng)新功能以提高效率,、精度 和使用便易度,，Talos™  F200X 是學術、政府和工業(yè) 等 領域進行高級研究與分析的理想選擇,。

高分辨圖像數(shù)據(jù)質量更好：

賽默飛世爾科技的 Talos™   F200X S/TEM 融合了高分辨 率 STEM 和 TEM 成像,行業(yè) X 射線能量色散譜（EDS） 信號檢測,，以及通過成分面掃實現(xiàn)三維化學表征等功能。利用 智能掃描引擎,、基于多個STEM    探測器的四通道合并技術,，以 及微分相位襯度（DPC）成像技術，賽默飛世爾科技  Velox™    S/ TEM  控制軟件顯著地改善  S/TEM  成像質量,，可以更好地分析 電磁結構,，并實行快速、準確的 EDS 數(shù)據(jù)處理及定量分析,。

賽默飛世爾科技的高亮度 X 場發(fā)射電子槍可以在提供高達標準 肖特基場發(fā)射電子槍五倍束流的同時保持較小的會聚角,。用戶 可以獲得高信噪比及STEM、EDS   圖像分辨率和更多高 分辨  TEM應用,。此外，X  場發(fā)射電子槍所具有的高穩(wěn)定性及使 用壽命長等特點使其具有更高的成像效率,。

顯示范圍更廣,、獲取圖像速度更快Talos™  快速 D/TEM 成像支持 高分辨率以及原位動態(tài)成像。賽默飛世爾科技的 Ceta 16M™  相 機的視場范圍更大,，圖像采集速率可高達每秒 25 幀,。同時壓電 樣品臺可以確保高靈敏度，無漂移成像及精確樣品導航,。因此    Talos™  在節(jié)約用戶時間的同時可以采集更多樣品數(shù)據(jù),。

賽默飛Talos™  F200X掃描/透射電子顯微鏡加快納米尺度范圍內分析解決問題的速度。

Talos™  F200X 采用賽默飛世爾科技保護的Super-X™  集成 EDS 系統(tǒng),，它配備了4 個硅漂移 X 射線探測器 (SDD),，具有  靈敏度，每秒可收集高達 105 幅能譜,。通過 Super-X™  與   A-TWIN 物鏡集成,，Talos™  F200X 限度地提高了 X 射線收 集效率，同時達到給定束流下（即使對低強度 EDS 信號）的理  想輸出計數(shù)率,。

賽默飛實驗室設備主要優(yōu)勢：

提供更優(yōu)質的圖像：  同時進行多重信號探測的高效率 STEM 成像技術為高質量的圖像提供了更好的圖像對比度

快速獲取化學成分數(shù)據(jù)：快速,，精確定量 的 EDS 分析技術以 揭 示納米級成分細節(jié)。

更多應用空間：利用專用的各種原位樣品桿進行原位動態(tài)實驗讓研究更輕松,。

Talos™   采用用戶友好的數(shù)字界面和人體工學設計,，允許多名科學家訪問圖像和分析工作流程?？焖賵D像采集與簡單易用的操作平臺相結合,，即使是經(jīng)驗不豐富的操作員也可以快速收集結果,。使用全程遙控操作，可以提高使用的便利度并增強環(huán)境穩(wěn)定性,。為了保持生產(chǎn)率,，Talos™   還配備了新的狀況監(jiān)視器，  以便收集重要的儀器參數(shù),，便于遠程診斷和支持,。

賽默飛Talos™  F200X掃描/透射電子顯微鏡特征：

• 領域光學性能：恒定功率 A-TWIN 物鏡。

• 易用性：快速,、簡單的操作切換,，可用于多用戶環(huán)境。

• 超穩(wěn)定平臺：恒定功率物鏡,、壓電樣品臺,、可靠的系統(tǒng)外殼和 遙控操作確保的穩(wěn)定性。

• SmartCam 相機：數(shù)字搜索和查看相機可以提高所有應用 的處理能力,，并可以在日光下操作,。

• 集成的快速探測器：Ceta 16M 像素 CMOS 相機可提 供較大的視場和很高的讀取速度 (25 fps @ 512×512)。

• 全程遙控操作：自動光闌系統(tǒng)與 Ceta 相機相結合,，支持 全程遙控操作,。

• 提高分析能力：Talos™  利用 EDS 三維成像技術將化學成分分 析能力從二維擴展到三維 。

安裝要求：

詳細數(shù)據(jù),，請參考預裝指南,。