GWJDN-1000 高溫材料測(cè)試I高溫介電測(cè)試儀I介電溫譜儀
參考價(jià) | ¥ 10000000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
- 品牌 ACE Controls/美國(guó)
- 型號(hào) GWJDN-1000
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/4/21 20:42:15
- 訪問(wèn)次數(shù) 986
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壓電測(cè)試儀,準(zhǔn)靜態(tài)d33測(cè)量?jī)x,,d33測(cè)量?jī)x,介電測(cè)量系統(tǒng),,壓電測(cè)量系統(tǒng),,鐵電材料測(cè)試儀
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣 |
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高溫材料測(cè)試I高溫介電測(cè)試儀I介電溫譜儀
GWJDN-1000型高溫介電測(cè)量系統(tǒng)高溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電,、介電特性測(cè)量與分析,,可以測(cè)量帶電極和不帶電極的樣品,通過(guò)配置不同的測(cè)試設(shè)備,,完成不同參數(shù)的測(cè)試,。是新一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng),科研測(cè)試裝置,,是國(guó)家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備,。
GWJDN-1000型高溫介電測(cè)量系統(tǒng)高溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電,、介電特性測(cè)量與分析,,可以測(cè)量帶電極和不帶電極的樣品,通過(guò)配置不同的測(cè)試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測(cè)試,。是新一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng),,科研測(cè)試裝置,是國(guó)家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備,。
一,、主要技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍: -190℃-1000℃
2,、測(cè)溫精度: 0.1℃
3.升溫速度: 1—20℃/min
4,、控溫模式: 程序控制,提供常溫,、變溫、恒溫,、升溫,、降溫等多種組合方式
5、通訊接口: RS-485
8,、電極材質(zhì): 鉑銥合金
9,、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層
10,、下電極:直徑26.8mm平面電極,,引線帶同軸屏蔽層
11、保護(hù)電極: 帶保護(hù)電極,,消除寄生電容,、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響
12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,,樣品平臺(tái)帶屏蔽罩
13,、夾具升降控制: 帶程序和手動(dòng)控制,可更換夾具的電動(dòng)升降裝置
14,、熱電偶 :熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉,,測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致
15、無(wú)電極樣品尺寸:直徑小于40mm,,厚度小于8mm
16,、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm
17,、軟件功能:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),,可以分類保存,樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
18,、測(cè)量方案:提供靈活,、豐富的測(cè)試設(shè)置功能,包括頻率譜,、阻抗譜,、介電譜及其組合
19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm)
20,、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量
21,、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,,30MM,,40MM壓片夾具
23、測(cè)試頻率:20HZ-50MHZ
24,、測(cè)試電平:100mV—2V
25,、分辨率:1MHZ
26、輸出阻抗: 100Ω
27,、測(cè)試參數(shù):Cp/Cs,、Lp/Ls、Rp/Rs,、|Z|,、|Y|、R,、X,、G、B,、θ,、D、Q,、Vac,、Iac、Rdc,、Vdc,、Idc
28、基本準(zhǔn)確度: 0.05%
29,、顯示:液晶顯示
30,、參數(shù)測(cè)量:多功能圖形和參數(shù)測(cè)量
31、接口方式: RS232C或HANDLER
二,、主要測(cè)量參數(shù)功能:
1,、測(cè)量以下參數(shù)隨溫度(T),、頻率(f)、電平(V),、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:
2,、測(cè)量電容(C)、電感(L),、電阻(R),、電抗(X)、阻抗(Z),、相位角(¢),、電導(dǎo)(G)、電納(B),、導(dǎo)納(Y),、損耗因子(D)、品質(zhì)因素(Q)等參數(shù),,
3,、同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電、介電性能的復(fù)介電常數(shù)(εr)和介質(zhì)損耗(D)參數(shù),。
4、可測(cè)試低溫環(huán)境下材料,、器件的介電性能
5,、可以根據(jù)用戶需求,定制開(kāi)發(fā)居里溫度點(diǎn)Tc,、機(jī)電耦合系數(shù)Kp,、機(jī)械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測(cè)量與分析。