GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀介紹：

關鍵詞：高溫介電,，溫譜,，平行板電極原理。

GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀中的測試夾具依據(jù)國際標準ASTM D150方法設計,，采用平行板電極原理,，測試電極由上下電極+保護電極組成。上下電有良好的同心度和平行度,，保護電極可減少周圍空氣電容的影響,，使得測試數(shù)據(jù)更加準確可靠。

介電溫譜儀可測量陶瓷,、薄膜,、半導體等塊狀材料，可與WK6500系列,、Agilent/keysight E4990A,、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用，組成一套集實驗方案設計,、測量、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)分析的三琦高溫介電溫譜測量系統(tǒng),。可同時測量及輸出頻率譜,、電壓譜,、偏壓譜、溫度譜的測量數(shù)據(jù)與圖形,，測試頻率為DC-30MHz,。

系統(tǒng)配置：

（一）、低溫模塊：

1,、系統(tǒng)配置參數(shù)

系統(tǒng)采用模塊化結(jié)構(gòu),，測試主機、溫控系統(tǒng),、信號采集系統(tǒng),、LCR表模塊四個分系統(tǒng)分離，易于系統(tǒng)寬展和升級,。含測試計算機1臺,、信號切換與控制系統(tǒng)1臺，低溫儀含四通道夾具1臺、6L液氮罐1個,，測試軟件1套,。

2、性能指標參數(shù)

（1）溫度區(qū)間：低溫系統(tǒng)-185℃~260℃

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min

（4）四通道測試夾具：低溫夾具為融石英與鈹銅鍍金探針復合結(jié)構(gòu)夾具,，探針壓力150g,，探針直徑小于3mm，探針彈簧行程大于4mm,，保證長期測試穩(wěn)定性

（5）系統(tǒng)屏蔽：輸入端口采用四個BNC端口,；輸出端口采用10個SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時）,；四通道切換主板采用預埋屏蔽層設計,，連接線材采用射頻同軸線，保證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性

（6）測試頻率范圍：阻抗測試范圍20Hz-10MHz,，LCR測試范圍20Hz-2MHz（請依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表）

（7）測試頻率數(shù)量：1~8個

（8）測試樣品個數(shù)：4個

（9）測試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）測試液氮用量：一次測試液氮使用小于1L

（12）變溫介電頻譜測試功能,；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能

（13）軟件：采用C#語言編寫,，可視化程度高,，自動測試。同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù),，并圖形化

（二）,、高溫模塊：

1、系統(tǒng)配置參數(shù)

系統(tǒng)采用模塊化結(jié)構(gòu),，測試主機,、溫控系統(tǒng)、信號采集系統(tǒng),、LCR表模塊四個分系統(tǒng)分離,，易于系統(tǒng)寬展和升級。含測試信號切換與控制系統(tǒng)1臺,，高溫儀含四通道測試夾具1臺,，測試軟件1套。

2,、性能指標參數(shù)

（1）溫度區(qū)間：室溫~1000℃

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min

（4）四通道測試夾具：高溫夾具為融石英與探針復合夾具,。其中探針為氧化鋁與鉑金復合結(jié)構(gòu)，芯層為鉑金,，絕緣層為氧化鋁,，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端，探針直徑小于3.5mm,。以保證長期高溫測試穩(wěn)定性

（5）系統(tǒng)屏蔽：輸入端口采用四個BNC端口,；輸出端口采用10個SMA輸出端口,，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時）；四通道切換主板采用預埋屏蔽層設計,，連接線材采用射頻同軸線,，保證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性；

（6）測試頻率范圍：阻抗測試范圍20Hz-10MHz,，LCR測試范圍20Hz-2MHz（請依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表）

（7）測試頻率數(shù)量：1~8個

（8）測試樣品個數(shù)：4個

（9）測試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）變溫介電頻譜測試功能,；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能

（12）軟件：采用C#語言編寫,，可視化程度高,，自動測試。同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù),，并圖形化