日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長三維測量儀MLP-3

非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測量機,、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復(fù)雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題,。

特征

1.不受表面顏色/反射率影響的高精度測量

可以直接測量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達(dá)到 90% 或更高的鏡面,。

2.從各個方向都可以接近

根據(jù)工件從最佳方向接近，高精度定量測量截面和三維形狀

3.可觀察測量點

內(nèi)置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測量點處的激光光斑和工件表面,，從而可以準(zhǔn)確識別測量位置并進(jìn)行測量。

4.MLP-3 可實現(xiàn)全周長測量

通過將完的全非接觸式自動對焦探頭與高精度 5 軸平臺相結(jié)合,，可以測量任何工件圓周上的亞微米形狀,。

日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長三維測量儀MLP-3

非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復(fù)雜測量,。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題,。

特征

1.不受表面顏色/反射率影響的高精度測量

可以直接測量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達(dá)到 90% 或更高的鏡面,。

2.從各個方向都可以接近

根據(jù)工件從最佳方向接近，高精度定量測量截面和三維形狀

3.可觀察測量點

內(nèi)置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測量點處的激光光斑和工件表面,，從而可以準(zhǔn)確識別測量位置并進(jìn)行測量,。

4.MLP-3 可實現(xiàn)全周長測量

通過將完的全非接觸式自動對焦探頭與高精度 5 軸平臺相結(jié)合，可以測量任何工件圓周上的亞微米形狀,。