HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測(cè)試

HAST高加速壽命試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度,、濕度、壓力的各種條件來完成的,，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部,。

HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測(cè)試

HAST設(shè)備特點(diǎn)

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范,；

多重保護(hù)功能：各種超壓超溫,、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)；

穩(wěn)定性更高：內(nèi)置自研PID控制算法,，確保溫度,、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定,；

智能化高：支持電腦連接,，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存,。

HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測(cè)試

用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn),。

應(yīng)用領(lǐng)域： PCB,、LCD Board、電池,、電容,、電阻、IC 半導(dǎo)體,、連接器,、線路板、磁性材料,、高分子材料,、EVA、光伏組件,、車規(guī)級(jí)芯片