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MOSFET-HAST測試 高加速老化試驗(yàn)箱

MOSFET（金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管）的HAST（Highly Accelerated Stress Test,，高加速應(yīng)力測試）測試是集成電路（IC）行業(yè)中常用的一種可靠性測試方法。

MOSFET-HAST測試 高加速老化試驗(yàn)箱測試目的

• 評估可靠性：通過模擬高溫高濕等惡劣環(huán)境,，評估MOSFET在實(shí)際應(yīng)用中可能面臨的條件下的穩(wěn)定性和可靠性,。

• 檢測潛在問題：加速M(fèi)OSFET的老化過程，從而更早地暴露出潛在的問題,，如焊接破裂,、金屬線斷裂、腐蝕引起的電氣連接問題等,。

• 提供性能數(shù)據(jù)：為制造商和客戶提供可靠的MOSFET性能數(shù)據(jù),，確保其能在惡劣環(huán)境下正常工作

MOSFET-HAST測試 高加速老化試驗(yàn)箱

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)采用較新優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方，做工精細(xì)

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)

3.大容量水箱,試驗(yàn)時間長,全自動補(bǔ)水,，試驗(yàn)不中斷

4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號施加端了

5.采用觸摸屏,，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)

7.一體成型硅膠門墊圈,，氣密度良好,，且使用壽命長

8.多項(xiàng)安全保護(hù)措施,故障報(bào)警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據(jù)客戶不同需求定制專用HAST試驗(yàn)設(shè)備（如: HAST內(nèi)箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）

MOSFET-HAST測試 高加速老化試驗(yàn)箱

滿足 IEC60068-2-66,、JESD22-A110,、JESD22-A118 規(guī)范要求

3種控制模式包含：不飽和控制(干濕球溫度控制),、不飽和控制(升溫溫度控制),、濕潤飽和控制。

高壓加速老化試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計(jì),，美觀大方,、做工精細(xì)，對應(yīng) IEC60068-2-66 條件

具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干,、濕球溫度傳感器,；具有緩降壓,、排氣、排水功能,，控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓力溫度的急變,，保證試驗(yàn)結(jié)果的正確。