IR檢測排片設(shè)備用于手機濾光片上下表面及測面檢測,，設(shè)備采用轉(zhuǎn)盤式高速物料流轉(zhuǎn)方案,。設(shè)備包含Wafer并行高速上下料，Wafer 掃碼,、Wafer 擴模,、頂針頂片、多吸嘴取片,、濾光片兩面缺陷檢測,、高精度排片、NG片回收等功能,。設(shè)備上表面及下表面?zhèn)让鏅z測工位,，通過高分辨率光學系統(tǒng)，對濾光片崩點,、臟污,、劃傷、絲印進行等進行高精度測量檢測,。特別針對濾光片凹坑檢測這個業(yè)界難點,，該設(shè)備集成了我司最新研制的凹坑檢測專用光學系統(tǒng)實現(xiàn)了凹坑缺陷的高準確率識別。另外,，設(shè)備具備缺陷分類,、SPC統(tǒng)計、MES數(shù)據(jù)上拋等信息化功能,。該設(shè)備為行業(yè)某頭部公司定制開發(fā),，為業(yè)內(nèi)具備濾光片上下表面缺陷全覆蓋檢測的高速面檢設(shè)備。

高速取排片

采用輕量化高速轉(zhuǎn)塔設(shè)計,，配合分離式下壓Z軸與XYU取排片平臺,，實現(xiàn)高速取排，CT＜0.7s,。

IR片多類型缺陷檢測

IR檢測排片設(shè)備采用高分辨率光學系統(tǒng)對濾光片臟污,、印子、劃傷,、水印,、絲印相關(guān)缺陷及凹坑等進行高精度檢測。