痕量分析 TXRF 光譜儀
快速多元素痕量分析可對固體,、粉末,、液體、懸浮物,、過濾物,、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性,、定量分析,,元素范圍13Al-92U,檢出限到2pg,。
需要樣品量少,,液體及懸浮物樣品1-50微升,粉末樣品10微克以內(nèi),。
便攜式全反射熒光儀,設(shè)備小巧,,一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計,,不需要任何輔助設(shè)備及氣體、液氮等,,可拿到現(xiàn)場進行分析,。
1位及25位全自動進樣器兩款設(shè)計,分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析,。
第四代XFlash®SDD硅漂移探測器,,采用帕爾貼冷卻技術(shù),不需要液氮,,沒有任何消耗,。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps。
由于全反射無背景,,熒光強度與元素含量直接成正比,。標準曲線工廠已校準好,用戶不需要標樣就可以進行定量分析。
行業(yè)應(yīng)用:
水,、廢水,、土壤中的污染元素;血液,、尿液,、組織中的有毒元素;食品,、醫(yī)藥,、刑偵、環(huán)保,、陶瓷,、水泥、建材,、地質(zhì)等領(lǐng)域,。