材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡

材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM功能：

可搭配眾多高分辨率場發(fā)射槍 (FEG)

選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG),。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結合。

直觀的軟件

Thermo Scientific Velox 軟件可實現(xiàn)對多模式數(shù)據(jù)的快速,、輕松的采集和分析,。

更短的化學成分獲得周期

快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節(jié),，同時保持高潔凈度,。

更多空間

為動態(tài)實驗添加特定用途的原位樣品桿。

高度可重復的數(shù)據(jù)采集

所有日常 TEM 調(diào)整,、例如聚焦,、共心高度、電子束移位,、冷凝器光闌,、電子束傾斜樞軸點和旋轉(zhuǎn)中心都是自動進行的，確保您始終從最佳成像條件開始工作,。實驗可以能夠再現(xiàn)的方式重復進行,，從而使您能夠?qū)Ｗ⒂谘芯慷莾x器操作。

更好的圖像數(shù)據(jù)

高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測,，可為高質(zhì)量圖像提供更高的對比度,。

高質(zhì)量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS

通過創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實現(xiàn)極準確的定量,。

提高了生產(chǎn)率

超穩(wěn)定的色譜柱,、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換,。多用戶環(huán)境的快速輕松切換,。