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材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/6/27 15:53:03
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1448

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FEI公司,,2016年被賽默飛世爾科技收購(gòu),,成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商,。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,,結(jié)合先進(jìn)的軟件套件,,運(yùn)用廣泛的樣本類(lèi)型,,通過(guò)將高分辨率成像與物理、元素,、化學(xué)和電學(xué)分析相結(jié)合,,使客戶(hù)的問(wèn)題變成有效可用的數(shù)據(jù),。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,,X射線光電子能譜儀,,三維可視化軟件

價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類(lèi) 熱場(chǎng)發(fā)射
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工

材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準(zhǔn)確化學(xué)定量的 TEM 顯微鏡

材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM功能:

可搭配眾多高分辨率場(chǎng)發(fā)射槍 (FEG)

選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場(chǎng)發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結(jié)合,。

直觀的軟件

Thermo Scientific Velox 軟件可實(shí)現(xiàn)對(duì)多模式數(shù)據(jù)的快速,、輕松的采集和分析,。

更短的化學(xué)成分獲得周期

快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級(jí)細(xì)節(jié),,同時(shí)保持高潔凈度。

更多空間

為動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)添加特定用途的原位樣品桿,。

高度可重復(fù)的數(shù)據(jù)采集

所有日常 TEM 調(diào)整,、例如聚焦,、共心高度、電子束移位,、冷凝器光闌,、電子束傾斜樞軸點(diǎn)和旋轉(zhuǎn)中心都是自動(dòng)進(jìn)行的,確保您始終從最佳成像條件開(kāi)始工作,。實(shí)驗(yàn)可以能夠再現(xiàn)的方式重復(fù)進(jìn)行,從而使您能夠?qū)W⒂谘芯慷莾x器操作,。

更好的圖像數(shù)據(jù)

高通量 STEM 成像采用同步多信號(hào)檢測(cè),,可為高質(zhì)量圖像提供更高的對(duì)比度,。

高質(zhì)量 (S)TEM 圖像和準(zhǔn)確的 EDS

通過(guò)創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶(hù)界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實(shí)現(xiàn)極準(zhǔn)確的定量,。

提高了生產(chǎn)率

超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠(yuǎn)程操作和恒定功率物鏡,,可進(jìn)行快速模式和高電壓 (HT) 切換,。多用戶(hù)環(huán)境的快速輕松切換,。

性能數(shù)據(jù)

HRTEM 線分辨率
  • ≤0.10 nm

STEM 分辨率
  • ≤0.16 nm (X-FEG)

  • ≤0.14 nm ,,100 pA (X-CFEG)

Super-X EDS 系統(tǒng)
  • 4 SDD 對(duì)稱(chēng)設(shè)計(jì)、無(wú)窗,、遮光板保護(hù)

電子能量損失光譜 (EELS) 能量分辨率
  • ≤0.8 eV (X-FEG)

  • ≤0.3 eV (X-CFEG

200 kV 下的槍亮度  
  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG)

  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)






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