一,、產(chǎn)品概述：

透射電鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種高分辨率的顯微鏡,，利用電子束穿透樣品以獲取其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和微觀特性的信息。TEM能夠提供納米級(jí)的分辨率，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué),、納米技術(shù),、生物學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域。

二,、設(shè)備用途/原理：

·設(shè)備用途

TEM主要用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu),、缺陷、相變及其他微觀特性,。它在金屬、陶瓷,、半導(dǎo)體及生物樣品的分析中發(fā)揮著重要作用,，常用于材料的成分分析、晶體取向測(cè)定以及納米結(jié)構(gòu)的形貌觀察,。

·工作原理

TEM的工作原理是通過(guò)加速電子束穿透極薄的樣品,。電子束在樣品中與原子相互作用，產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象,。透過(guò)樣品的電子被收集并形成圖像,。TEM通常配備多種成像模式，如明場(chǎng),、暗場(chǎng)和電子衍射,，以提供樣品的不同信息。由于其高分辨率,，TEM能夠揭示樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分,，為科學(xué)研究和材料開發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

三,、主要技術(shù)指標(biāo)：

1. 配備了高靈敏度sCMOS相機(jī),、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量,、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡

2. TEM分辨率 (nm)：0.14

3. 加速電壓：10 ～ 120kV

4. 倍率 （TEM）：×10～1,500,000

5. 樣品傾斜角：Tilt-X  ±70°(高傾斜樣品桿)

6. 多樣品裝填數(shù)：4