JSM-IT800 日本JEOL 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
- 公司名稱 天津浩創(chuàng)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) JSM-IT800
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/3/6 18:34:40
- 訪問(wèn)次數(shù) 3814
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 儀器種類 | 熱場(chǎng)發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池 |
日本JEOL 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡特性
JSM-IT800 整合了我們用于從高分辨率成像到快速元素分析的“浸沒(méi)式肖特基 Plus 場(chǎng)發(fā)射電子槍”,、創(chuàng)新的電子光學(xué)控制系統(tǒng)“Neo Engine”以及無(wú)縫 GUI 系統(tǒng)“SEM Center”，該系統(tǒng)采用一體化 JEOL X 射線能量色散譜儀 (EDS) 作為通用平臺(tái),，進(jìn)行快速元素分析,。
JSM-IT800 允許物鏡作為一個(gè)更換模塊，提供不同的版本以滿足各種用戶需求,。JSM-IT800 有五種版本,，提供不同的物鏡：混合型物鏡 (HL)，這是一種通用 FE-SEM,；超級(jí)混合物鏡（SHL/SHLs,，具有不同功能的兩種版本），可實(shí)現(xiàn)更高分辨率的觀察和分析,；以及新開(kāi)發(fā)的半浸沒(méi)式物鏡（i/is,，具有不同功能的版本），適用于納米材料,、化學(xué),、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析,。
此外,，JSM-IT800 還可以配備新型閃爍體背散射電子探測(cè)器 (SBED) 和多功能背散射電子探測(cè)器 (VBED)。SBED 支持以高響應(yīng)性獲取圖像,，即使在低加速電壓下也能產(chǎn)生清晰的成分襯度,，而 VBED 可以幫助獲取 3D、形貌和成分襯度的圖像,。因此,，JSM-IT800 可以幫助用戶獲取豐富多樣德 信息并解決測(cè)量中的問(wèn)題。
日本JEOL 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
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