葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業(yè)級的高分辨率原子力顯微鏡,，Z軸噪音低于35皮米,。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時可對樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究,，數(shù)值測定與分析,。

葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)工作模式：

輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode),，相位成像模式 (Phase imaging),，橫向力模式 (LFM)，力曲線測試（Force Curve）,，納米操控 （Nanomanipulation）,，納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping）,，摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導(dǎo)電原子力顯微鏡 （C-AFM）,，磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢顯微鏡（SKPM）,。

設(shè)備具有軟件自動進(jìn)針功能,。通過軟件控制Z方向馬達(dá)實現(xiàn)探針自動進(jìn)針。

X,Y,Z三軸分離的掃描器,。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸：25mm*25mm*18mm 

操作軟件：使用Laview環(huán)境語言控制，免費提供操作軟件,，并提供維護(hù)及升級,。提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)

頂視系統(tǒng)光學(xué)分辨率≤2微米，視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調(diào),，放大倍率從45倍到400倍機(jī)械可調(diào),。

側(cè)視系統(tǒng)，提供可視化下針,，可以通過電腦精確觀察控制下針過程,，防止撞針。