ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的,。

HED-W5100D

全自動(dòng)晶圓ESD測試機(jī)

l 最高支持12英寸 300mm晶圓ESD測試方案

l 測試效率高,，自動(dòng)探針臺(tái)和晶圓映射程序啟用了全自動(dòng)晶圓級(jí)ESD測試

l 同時(shí)支持package測試

l   配備CCD相機(jī)

l   可以與Hanwa TLP測試儀,，HED-T5000和T5000VF
l   Woks 集成在一起,，作為不帶插座板的高引腳數(shù)封裝級(jí)測試儀。
l   SCM（10pF浪涌）選項(xiàng)可用,。

公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括：探針臺(tái)系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測試系統(tǒng)制造商MAURY,；測量儀器制造商KEYSIGHT,；的模型服務(wù)商Modelithics,；EDS設(shè)備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累,，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測試解決方案,、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)