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HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備

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南京芯測軟件技術有限公司,,專業(yè)打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺,。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造,以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務,。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試,,器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進供應商,,以滿足國內用戶需求,,開發(fā)半導體測試設備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā),。涉及的設備包括:手動探針臺,、半自動探針臺、全自動探針臺,、硅光探針臺,、射頻探針臺、高低溫探針臺,、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統(tǒng),、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試,、射頻微波器件測量,,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測,、失效分析,、材料測試等應用行業(yè)

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設備,,TLP測試設備,,CDM測試設備

應用領域 化工,電氣,綜合

ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的,。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備


HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備

 

HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC


TLP 測試機

l 用于獲取器件保護電路的相關參數特性

l 為器件升級提供支持,,縮短產品周期

l 提供普通和VF(非??欤┬吞枴?span style="font-family: " lucida="" kaku="" gothic="" pro="" font-size:="" font-variant-numeric:="" font-variant-east-asian:="" text-indent:="">VF模型提供正常(100nm / 200nm)和VF(1nm-)脈沖寬度,。

l   具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產率,。

l   可與HED-W5000,ESD(HBM,,MM)測試儀結合使用現在提供大電流輸出型號(T5000-HC),。

HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備

 

TLP 測試機 產品系列

此設備是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設備

對集成電路里保護電路的工作參數的收集與分析有很大幫助

也可進行VF-TLP測試

產品名/型號 設備說明 設備介紹視頻

           HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備            
HED-T5000/
           HED-T5000VF

此設備配備了先進的測試模式
           
           具備印加脈沖寬度為100ns/200ns的normal TLP測試與寬度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)測試模式
           
           有助于驗證HBM/CDM模式的測試
           
           對于器件管腳的入射波和器件管腳發(fā)出的反射波,都可在示波器上確認到
           
           此數據會自動保存,,并在專用的顯示軟件上表示
           
           專用顯示軟件可對入射波/反射波的合計值,,snapback特性以及漏電流測試的電流值進行圖形描繪
           
           被保存的示波器上的數據可以進行高自由度的演算處理
           
           比如,對于不同工藝的晶體管的ON電壓及可以加在保護電路上的最大電流值等,,可以通過曲線的重疊描繪來確認其差異
           
           并且可以與半自動探針臺連接,,實現TLP測試的自動化
           
           由于可以在Wafer level上進行印加管腳間或芯片間的自動移位,所以能夠很大地提升測試效率

 

           HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備            
HED-T5000-HC

目前,,對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加
           
           對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試,,在本設備上得以實現、并有助于高耐壓元件工作參數的取得及分析

 

 

 



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