MST 原位多場(chǎng)耦合樣品桿
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 安徽澤攸科技有限公司
- 品牌 PicoFemto
- 型號(hào) MST
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/13 13:57:02
- 訪問(wèn)次數(shù) 5791
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 兼容性 | 適配Thermofisher/FEI,、JEOL,、Hitachi透射電鏡 | 原位功能 | 光、電,、力,、熱任意耦合 |
|---|---|---|---|
| 樣品桿傾轉(zhuǎn) | 單傾、雙傾 |
PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位多場(chǎng)耦合樣品桿是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),，借助該系統(tǒng),，研究人員可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括光、電,、力,、熱等），從而對(duì)材料或者器件等不同類型樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征,。
具備多種耦合方式：力-熱,、力-電、光-電,、光-電-力,、光-電-力-熱
技術(shù)指標(biāo)
產(chǎn)品選型
原位多場(chǎng)耦合樣品桿具有單傾,、雙傾（JEOL）兩個(gè)版本,；
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）,、Hitachi（日立）各型號(hào)透射電子顯微鏡及極靴的不同型號(hào)樣品桿,，支持定制。
國(guó)內(nèi)部分用戶
1,、加熱芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位加熱電學(xué)實(shí)驗(yàn),；
2、加熱芯片+力學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位高溫力學(xué)實(shí)驗(yàn),；
3,、電學(xué)芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的三端器件測(cè)量實(shí)驗(yàn)；
4,、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的電制發(fā)光現(xiàn)象研究,；
5、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的原位光電現(xiàn)象研究,。
具備多種耦合方式：力-熱,、力-電、光-電,、光-電-力,、光-電-力-熱
技術(shù)指標(biāo)
| 電學(xué)測(cè)量 | 加熱控溫 |
| 1.包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元； | 1.溫度范圍：室溫至1000℃,； |
| 2.電流測(cè)量范圍：1nA-30mA,； | 2.溫度準(zhǔn)確度：優(yōu)于5%； |
| 3.電流分辨率：100fA,； | 3.控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1℃； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V,，±150V,； | 4..軟件控制，數(shù)據(jù)自動(dòng)保存,。 |
| 5.軟件自動(dòng)測(cè)量：I-V,、I-t |
透射電子顯微鏡內(nèi)不同溫度下的原位充放電研究
In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures
doi: 10.1002/smll.202001899
| 力學(xué)操縱 | 光纖指標(biāo) |
| 1.探針粗細(xì)調(diào)方式：全軟件操控,； | 1.光纖探針、平頭光纖,、光纖透鏡多種方案可選,； |
| 2.粗調(diào)范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm,； | 2.光纖快拆接口：SMA,、FC等； |
| 3.細(xì)調(diào)范圍：XY方向18um,，Z方向1.5um,； | 3.可外接光源； |
| 4.4.細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4nm,，Z方向0.04nm,； | 4.可外接光譜儀； |
產(chǎn)品選型
原位多場(chǎng)耦合樣品桿具有單傾,、雙傾（JEOL）兩個(gè)版本,；
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）,、Hitachi（日立）各型號(hào)透射電子顯微鏡及極靴的不同型號(hào)樣品桿,，支持定制。
國(guó)內(nèi)部分用戶
1,、加熱芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位加熱電學(xué)實(shí)驗(yàn),；
2、加熱芯片+力學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位高溫力學(xué)實(shí)驗(yàn),；
3,、電學(xué)芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的三端器件測(cè)量實(shí)驗(yàn)；
4,、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的電制發(fā)光現(xiàn)象研究,；
5、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的原位光電現(xiàn)象研究,。
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