儀器簡介：

XTD鍍層測厚儀是一款專用于檢測各種異形件,，特別適用于五金類模具,、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析,。

該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面,、微小樣品的檢測，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢,。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控,、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

• *EFP算法：多層多元素,、各種元素及有機(jī)物,，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量

• 上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對(duì)超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn),、穩(wěn)高效率測量

• 自動(dòng)對(duì)焦：高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦

• 變焦裝置算法：可對(duì)0-90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測

• 小面積測量：最小測量面積0.002mm2

• 可編程自動(dòng)位移：選配自動(dòng)平臺(tái),，X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)無人值守自動(dòng)測量

XTD鍍層測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、新能源行業(yè),、5G通訊,、五金建材,、航空航天、環(huán)保行業(yè),、汽車行業(yè),、衛(wèi)浴裝飾、精密電子,、電鍍行業(yè)等多種領(lǐng)域,。

多元迭代EFP核心算法（ZL號(hào)：2017SR567637）

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光,、二次熒光,、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng),、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,，結(jié)合*光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,，可測試重復(fù)鍍層、非金屬,、輕金屬,、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe,、Ag/Cu等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe,、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe,，通過EFP算法,，在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí)，還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例,。

重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素,，也可精準(zhǔn)測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,，第一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量,。

技術(shù)參數(shù)：

1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）

2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）

3. 厚度檢出限：0.005μm

4. 成分檢出限：1ppm

5. 最小測量直徑0.05mm（最小測量面積0.002mm2）

6. 對(duì)焦距離：0-90mm

7. 樣品腔尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 儀器尺寸：760mm*550mm*635mm

9. 儀器重量：100KG

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機(jī)多用，無損檢測

2.最小測量面積0.002mm2

3.可檢測凹槽0-90mm的異形件

4.輕元素,，重復(fù)鍍層,，同種元素不同層亦可檢測