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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>紫外分光光度計(jì)> 日立紫外可見(jiàn)光近紅外分光光度計(jì)UH4150

日立紫外可見(jiàn)光近紅外分光光度計(jì)UH4150

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 蘇州思普萊信息科技有限公司
  • 品牌 Hitachi/日立
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2021/11/10 15:59:37
  • 訪問(wèn)次數(shù) 379

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


蘇州思普萊信息科技有限公司主營(yíng)實(shí)驗(yàn)測(cè)試設(shè)備,現(xiàn)有*產(chǎn)品達(dá)到240余項(xiàng),,多種產(chǎn)品通過(guò)歐盟CE,、EN、美國(guó)NSF,、FDA等認(rèn)證,,擁有注冊(cè)證180多項(xiàng)。已在全國(guó)19個(gè)省市建立了分公司,,在美國(guó)硅谷,、迪拜、印度,、阿爾及利亞,、新加坡等地建立了海外孵化基地。

分光光度計(jì),,原子力顯微鏡,,熱分析儀,電子顯微鏡

波長(zhǎng)范圍 190~3300nm 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 ±0.1nm
光譜帶寬 1nm 價(jià)格區(qū)間 面議
接收器類 CMOS 儀器結(jié)構(gòu) 雙光束
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,能源,電子/電池 雜散光(S.L.) <0.01%T
自動(dòng)程度 自動(dòng)波長(zhǎng)

切換檢測(cè)器波長(zhǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生小的信號(hào)差異,即使這樣日立紫外可見(jiàn)光近紅外分光光度計(jì)UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)定


檢測(cè)器切換時(shí)附近波長(zhǎng)測(cè)定數(shù)據(jù)例
(金納米棒的吸收光譜)

安裝在積分球上的多個(gè)檢測(cè)器可在紫外-可見(jiàn)-近紅外的波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)定,。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號(hào)處理技術(shù)等,,將檢測(cè)器切換時(shí)(信號(hào)水平的差異)吸光度值的變化降到最小。

日立紫外可見(jiàn)光近紅外分光光度計(jì)UH4150高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振

UH4150采用棱鏡-光柵(P-G)雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),,秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn),。棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見(jiàn)的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒(méi)有大的改變。即使對(duì)于低透過(guò)率和反射率的樣品,,UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測(cè)定,。

分光光度計(jì)平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測(cè)定


鏡面反射率測(cè)定示例

入射角對(duì)固體樣品鏡面反射率的測(cè)定非常重要。對(duì)于會(huì)聚光束,,由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會(huì)不同,,因此,像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計(jì)值將與實(shí)際測(cè)定值不同,。 但對(duì)于平行光束,,相對(duì)于樣品入射角始終相同,實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測(cè)定,。此外,,平行光束可用于擴(kuò)散率(霧度)的評(píng)價(jià)和透鏡透過(guò)率的測(cè)定。

分光光度計(jì)可提供適合不同測(cè)定目的的多種檢測(cè)器


檢測(cè)器產(chǎn)品線

可使用八種不同材料,、尺寸和形狀的積分球,。*2*3

采用全新人體工學(xué)設(shè)計(jì)

改進(jìn)樣品室門(mén),提升操作性,。為了便于更換樣品和附件的操作,,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì),。

兼容多種分光光度計(jì)U-4100附件

通用附件適用于兩種型號(hào)。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,,適合更多的測(cè)定類型,。

比分光光度計(jì)U-4100型更高的樣品通量

在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時(shí),UH4150提供更高通量的測(cè)定,。之前型號(hào)的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測(cè)定時(shí),,掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測(cè)定,,顯著縮短測(cè)定時(shí)間,。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測(cè)定到2,600 nm。對(duì)需要在紫外-可見(jiàn)-近紅外波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)定的樣品,,如太陽(yáng)能反射材料,,尤其有效。


掃描速度為600 nm/min的
太陽(yáng)能反射材料的反射光譜


掃描速度為1,200 nm/min的
太陽(yáng)能反射材料的反射光譜

微小樣品透過(guò)率測(cè)定

微小樣品透過(guò)率測(cè)定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過(guò)率測(cè)定,。


攝像鏡頭測(cè)定示例

微小樣品透過(guò)率測(cè)定(P/N 1J0-0204)

規(guī)格
掩膜類型適合樣品尺寸
φ3mm掩膜
(標(biāo)配)
φ5-φ20,厚度等于或
小于3 mm
φ1mm掩膜
(選配)
φ3-φ20,厚度等于或
小于3 mm
  • *

  • 更換光源掩膜必須要使用隨附φ4 mm光源掩膜,。

漫反射率測(cè)定

可將樣品放在積分球后面(樣品側(cè)的入射角為0°)測(cè)定粉末等樣品的漫反射率。


二氧化鈦漫反射率測(cè)定示例

60 mm標(biāo)準(zhǔn)積分球(全反射和漫反射)(P/N 1J1-0120)

規(guī)格
入射角
波長(zhǎng)范圍240 - 2,600 nm
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